第三單元半導(dǎo)體雙極器件(PN結(jié))ppt課件.ppt

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1、第三單元:半導(dǎo)體雙極器件第一章:P-N結(jié)P—N結(jié)是晶體二極管和三極管中最基本的環(huán)節(jié),是半導(dǎo)體器件的核心部分。在制造晶體管和半導(dǎo)體集成電路時,其主要工藝就是制造性能良好的P—N結(jié)。P-N結(jié)理論是結(jié)型晶體管的物理基礎(chǔ),因此在學(xué)習(xí)晶體管原理時,首先應(yīng)該很好掌握p—n結(jié)的基本理論。第一章:P-N結(jié)第一章:P-N結(jié)二.平衡PN結(jié)平衡PN結(jié):無外加電壓且通過結(jié)的凈電流為零。1.空間電荷區(qū):P區(qū)與N區(qū)結(jié)合在一起時,由于存在極大的載流子濃度梯度,導(dǎo)致P區(qū)的空穴向N區(qū)擴(kuò)散和N區(qū)的電子向P區(qū)擴(kuò)散。隨著自建電場的增強(qiáng),空間電荷不斷增多,空間電荷區(qū)也不斷擴(kuò)大,則載流子的漂移電流不

2、斷加大。達(dá)到平衡時,流過PN結(jié)的凈電流為零,空間電荷區(qū)不再展寬??臻g電荷區(qū)內(nèi)存在一從N區(qū)指向P區(qū)的自建電場。2.平衡PN結(jié)的能帶:平衡PN結(jié)的費(fèi)米能級不隨位置變化本征費(fèi)米能級Ei隨位置的變化與電子電勢能的變化一致,即:(3-1)(3-2)(3-3)3.P-N結(jié)接觸電勢差平衡P-N結(jié)的空間電荷區(qū)兩端間的電勢差VD,稱為平衡P-N結(jié)的接觸電勢差或內(nèi)建電勢差。相應(yīng)的電子電勢能之差即能帶的彎曲量qVD稱為P-N結(jié)的勢壘高度。(3-4)非簡并半導(dǎo)體:(3-5)(3-6)(3-7)三.平衡P-N結(jié)的載流子分布(3-8)空間電荷區(qū)內(nèi)處的電子和空穴濃度:(3-9)(3-1

3、0)得:(3-11)(3-12)(3-13)(3-14)(3-15)四.平衡P-N結(jié)的電場i.突變結(jié)對非簡并半導(dǎo)體,假設(shè)雜質(zhì)全部電離,在空間電荷區(qū):(3-16)假設(shè)空間電荷區(qū)內(nèi)自由載流子密度為零,即耗盡層近似,則電荷密度可表示為:(3-17)(3-18)(3-19)(3-20)求解一維泊松方程:(3-21)利用邊界條件:(3-22)(3-23)(3-24)最大電場為于X=0處:(3-25)利用處電勢分布連續(xù)性,可得:(3-26)(3-27)(3-28)(3-29)線性緩變結(jié):電荷是對稱分布的,PN結(jié)界面為原點(diǎn),其濃度梯度為a。(3-30)(3-31)(3-

4、32)(3-33)五.P-N結(jié)電流電壓特性1)非平衡PN結(jié)給PN結(jié)加上外電壓V,結(jié)兩邊的電勢差從平衡時的-VD變?yōu)?(VD±V)。勢壘高度的變化將引起勢壘區(qū)內(nèi)電場的變化,破壞了平衡,須用準(zhǔn)費(fèi)米能級描述非平衡PN結(jié)各處的載流子濃度。正向偏置,勢壘降低,在PN結(jié)界面處發(fā)生少子的注入效應(yīng)。反向偏置:勢壘增高,在PN結(jié)界面處發(fā)生少子的抽取。2)理想PN結(jié)模型及電流電壓方程l小注入條件l突變耗盡層l忽略勢壘區(qū)內(nèi)載流子的產(chǎn)生與復(fù)合l玻爾茲曼邊界計算理想PN結(jié)電流的步驟:l根據(jù)費(fèi)米能級計算勢壘區(qū)邊界處注入的非平衡少數(shù)載流子濃度;l以邊界處注入的非平衡少數(shù)載流子濃度作邊界

5、條件,解擴(kuò)散區(qū)中載流子連續(xù)性方程,得到擴(kuò)散區(qū)中非平衡少數(shù)載流子分布;將非平衡少數(shù)載流子的濃度分布代入擴(kuò)散方程,算出擴(kuò)散流密度,再算出少數(shù)載流子的電流密度;求邊界處的非平衡少數(shù)載流子濃度:(3-34)(3-35)(3-36)(3-37)為多數(shù)載流子,即(3-38)(3-39)同理可得n區(qū)邊界處少數(shù)載流子濃度為:(3-40)(3-41)注入勢壘區(qū)邊界處的非平衡少數(shù)載流子是外加電壓的函數(shù)在穩(wěn)態(tài)時,空穴擴(kuò)散區(qū)中非平衡少子的連續(xù)性方程為:(3-42)小注入時,很小,可忽略不計,在擴(kuò)散區(qū)內(nèi)Ex=0:(3-43)方程的通解為:(3-44)其中:邊界條件:得:(3-45)

6、同理可得注入P區(qū)的非平衡少子:(3-46)在小注入時,擴(kuò)散區(qū)內(nèi)不存在電場,在x=xn處,空穴擴(kuò)散流密度為:(3-47)同理,在x=-xp處的電子擴(kuò)散流密度為:(3-48)通過P-N結(jié)的總電流密度為:(3-49)(3-50)(3-51)(3-51)式為理想P-N結(jié)電流電壓方程式,又稱肖克萊方程式。A.P-N結(jié)具有單向?qū)щ娦?。B.溫度對電流密度的影響很大:(3-52)二極管電流隨溫度升高而迅速增大并且越大的半導(dǎo)體變化越快。六.P-N結(jié)電流電壓特性偏離理想方程的因素:實驗測量表明,理想的電流電壓方程式和小注入下鍺P-N結(jié)的實驗結(jié)果符合較好,但與硅P-N結(jié)的實驗結(jié)

7、果偏離較大。由圖看出,在正向偏壓時,理論與實驗結(jié)果間的偏差為:①正向電流小時,理論計算值比實驗值小;②正向電流較大時,曲線C段J—V關(guān)系為③在曲線d段,J—V關(guān)系不是指數(shù)關(guān)系,而是線性關(guān)系。在反向偏壓時,實際測得的反向電流比理論計算值大得多,而且反向電流是不飽和的,隨反向偏壓的增大略有增加。砷化鎵P—n結(jié)情況和硅P—n結(jié)相似。這說明理想電流電壓方程式?jīng)]有完全反映外加電壓下PN結(jié)情況,還必須考慮其他因素的影響,使理論更進(jìn)一步完善。引起上述差別的主要原因有:①表面效應(yīng);②勢壘區(qū)的產(chǎn)生及復(fù)合;③大注入條件;④串聯(lián)電阻效應(yīng)。1.PN結(jié)空間電荷區(qū)中的復(fù)合、產(chǎn)生電流:

8、設(shè)復(fù)合小心是最典型的深能級,,所以,并忽略電子和空穴壽命的差別,復(fù)

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