光譜技術(shù)在奈米科學(xué)上應(yīng)用

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1、光譜技術(shù)在奈米科學(xué)上的應(yīng)用文／王俊凱摘要本文介紹了兩種光譜顯微技術(shù)，並且以實(shí)例來說明他們對(duì)於奈米尺度下物質(zhì)特性了解的幫助。在從一至一千奈米（一奈米等於一毫微米，10-9米）的世界裡，充滿了各種不同於原子世界及巨觀世界裡的新奇現(xiàn)象。從這些現(xiàn)象中產(chǎn)生了許多潛在的新物質(zhì)特性及應(yīng)用。正是由於這些理由，使得奈米科技成為二十一世紀(jì)最重要的科技新領(lǐng)域之一（其他兩個(gè)是資訊科技及生物科技）。而其中最值得一提的共通性是這些特性常常與結(jié)構(gòu)的大小及形狀間存在一種敏感且非線性的關(guān)係。使得這些特性常常無法以直觀、簡(jiǎn)單的推論來預(yù)測(cè)。其來源乃是源起於其內(nèi)部的交互作用機(jī)制遵守微觀的非線性法則

2、。目前奈米研究偏重在結(jié)構(gòu)上的分析。尤其是結(jié)構(gòu)檢測(cè)上的儀器[如電子顯微鏡(如transmissionelectronmicroscope及scanningelectronmicroscope)與掃描探針顯微鏡(scanningprobemicroscope)]在近年來的蓬勃發(fā)展，已能對(duì)於奈米尺度進(jìn)行深入且清楚的分析研究。但是這些技術(shù)絕大部分卻無法偵測(cè)出奈米物體的特性。尤其是決定其特性最重要的電子能階及其相關(guān)的性質(zhì)，卻常常付之闕如。因此，對(duì)於與奈米尺度上有著極敏感關(guān)係的特性(property)，絕大多數(shù)情況仍仰賴巨觀而大量樣品的量測(cè)。由於奈米製程上有限的控制度以

3、及微觀環(huán)境對(duì)於每一樣品的不均勻影響，使得這些巨觀量測(cè)無法得到深入地了解奈米尺度上的特性。因此，如何發(fā)展出能夠直接量測(cè)在奈米尺度下特性的量測(cè)技術(shù)，就成為目前奈米研究的最重要課題之一。在此筆者將介紹屬於這方面的兩種光譜顯微技術(shù)(opticalspectro-microscopy)之發(fā)展：傳統(tǒng)式光譜顯微技術(shù)及近場(chǎng)(near-field)掃描式光譜顯微技術(shù)，並且列舉四個(gè)實(shí)例來說明。圖一是傳統(tǒng)式光譜顯微系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖[1]。其中大概可區(qū)分為四個(gè)部分。第一部分是光學(xué)顯微鏡(直立式或倒立式)。其空間解析度可達(dá)到次微米(sub-micrometer)的程度。若加上共焦(con

4、focal)裝置，可以進(jìn)一步達(dá)到200~300奈米的解析度。第二部分是激發(fā)光源。依照其應(yīng)用可以分為連續(xù)性寬波長(zhǎng)範(fàn)圍的燈源與雷射光源以及脈衝式的燈源與雷射光源。前者用於測(cè)量靜態(tài)光譜，後者用於測(cè)量動(dòng)態(tài)光譜。利用光學(xué)顯微鏡之光源引進(jìn)口，可以將這些光源導(dǎo)入樣品。第三部份是樣品區(qū)。根據(jù)其系統(tǒng)的差別，可以是普通夾具、控溫的液態(tài)樣品室、或者是在真空下的低溫樣品室。第四部分是偵測(cè)系統(tǒng)。將穿透過樣品的光波、散射光(elasticandinelasticscattering)及螢光(photoluminescence)、以及其他非線性光學(xué)訊號(hào)[譬如倍頻(harmonicgene

5、ration)及同調(diào)拉曼訊號(hào)(coherentRamanscattering)]收集起來，再透過光譜儀，將不同波長(zhǎng)的訊號(hào)分開出來，接下來再用不同的光偵測(cè)器來量測(cè)[譬如多頻道(multi-channel)電荷耦合照相機(jī)(charge-coupleddevice，CCD)、單頻道(single-channel)光子倍增管(photo-multipliertube)、或者是快速照相機(jī)(streakcamera)]。藉由此光譜顯微系統(tǒng)，可以進(jìn)行單一奈米物體(single-object)的靜態(tài)及動(dòng)態(tài)的光譜研究。圖一：傳統(tǒng)式光譜顯微系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖。圖二是近場(chǎng)掃描式光譜顯微

6、系統(tǒng)的基本結(jié)構(gòu)圖[2]。其最重要的元件是尖錐狀(tapered)的光纖頂端。在加熱中逐漸拉長(zhǎng)的情況下，光纖直徑將變小。在切斷後，即成為尖錐狀。然後在經(jīng)由熱蒸鍍一層鋁金屬薄膜在其側(cè)邊，則形成一個(gè)極細(xì)的光導(dǎo)管尖端。當(dāng)光波由另一端灌入後，將沿光纖傳導(dǎo)至此一尖錐端。而由於鋁薄膜的局限，將使光波涵蓋的直徑在此一出口端的範(fàn)圍最小可達(dá)到約20奈米。因此，此一光源可以來作為遠(yuǎn)小於繞射極限(diffraction-limited)的光焦點(diǎn)，來進(jìn)行近場(chǎng)的光譜實(shí)驗(yàn)。圖二：近場(chǎng)掃描式光譜顯微系統(tǒng)的基本結(jié)構(gòu)圖。圖二右邊展示其基本架構(gòu)。雷射光源由光纖另一端灌入後，再由其尖錐端輸出來與樣

7、品作用。其穿透的光波、或者其產(chǎn)生的螢光及散射光，可用一個(gè)物鏡收集，然後導(dǎo)入光譜偵測(cè)系統(tǒng)加以分析。此一尖錐式光纖可以架設(shè)在音叉上，藉由此一尖端與樣品表面的作用力所改變的音叉頻率來作為迴授控制訊號(hào)。配合樣品的xy平面的掃描系統(tǒng)，可以同時(shí)得到剪力影像(shear-forceimage)以及近場(chǎng)光譜影像。藉由此光譜顯微系統(tǒng)，甚至可以進(jìn)行單一奈米物體上靜態(tài)及動(dòng)態(tài)的光譜分佈研究。以下筆者將介紹四個(gè)實(shí)例來說明此兩種光譜顯微技術(shù)在奈米科技的應(yīng)用。圖三是利用第一種傳統(tǒng)式光譜顯微技術(shù)所得到的單顆銀奈米三角形顆粒的散射光譜[3]。其激發(fā)光源是連續(xù)性的Xe燈，而光學(xué)顯微系統(tǒng)是利用一

8、顆100倍的暗光(dark-field)物鏡來收取訊