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《基于可復用ip核的soc測試研究》由會員上傳分享，免費在線閱讀，更多相關(guān)內(nèi)容在學術(shù)論文-天天文庫。
1、·分類號密級UDC編號桂林電子科技大學碩士學位論文題目____基于可復用IP核的SOC測試研究___（英文）ResearchOnSOCTestBasedOnReusableIPCore研究生姓名:方剛指導教師姓名、職務:雷加教授申請學位門類:工學碩士學科、專業(yè):檢測技術(shù)與自動化裝置提交論文日期:2007年4月論文答辯日期:2007年6月_________________年月日···-···獨創(chuàng)性（或創(chuàng)新性）聲明本人聲明所呈交的論文是我個人在導師指導下進行的研究工作及取得的研究成果。盡我所知，除了文中特別加以標注和致謝中所羅列的內(nèi)容以外，論文中不包含其他人已經(jīng)發(fā)表或撰寫過的研究成果
2、；也不包含為獲得桂林電子科技大學或其它教育機構(gòu)的學位或證書而使用過的材料。與我一同工作的同志對本研究所做的任何貢獻均已在論文中做了明確的說明并表示了謝意。申請學位論文與資料若有不實之處，本人承擔一切相關(guān)責任。本人簽名：日期：關(guān)于論文使用授權(quán)的說明本人完全了解桂林電子科技大學有關(guān)保留和使用學位論文的規(guī)定，即：研究生在校攻讀學位期間論文工作的知識產(chǎn)權(quán)單位屬桂林電子科技大學。本人保證畢業(yè)離校后，發(fā)表論文或使用論文工作成果時署名單位仍然為桂林電子科技大學。學校有權(quán)保留送交論文的復印件，允許查閱和借閱論文；學?？梢怨颊撐牡娜炕虿糠謨?nèi)容，可以允許采用影印、縮印或其它復制手段保存論文。（保
3、密的論文在解密后遵守此規(guī)定）本學位論文屬于保密在____年解密后適用本授權(quán)書。本人簽名：日期：導師簽名：日期：···-···中文摘要摘要隨著微電子技術(shù)的飛速發(fā)展，集成電路及其系統(tǒng)變的日益復雜，傳統(tǒng)的測試模型和測試方法遠不能滿足當今大規(guī)模電路的測試要求。系統(tǒng)芯片（SOC）測試遇到了新的挑戰(zhàn)，可復用IP核的測試就是其中之一。測試結(jié)構(gòu)復用和測試優(yōu)化是可復用IP核測試的兩個關(guān)鍵問題，本文針對這兩個關(guān)鍵問題，較為系統(tǒng)的研究了可復用IP核的測試結(jié)構(gòu)以及Wrapper和TAM優(yōu)化算法。本文深入研究了可復用IP核的測試結(jié)構(gòu)，詳細分析了IEEEP1500標準中測試外殼（Wrapper）單元結(jié)構(gòu)在移
4、位過程中存在的不安全性，實現(xiàn)了安全的Wrapper單元結(jié)構(gòu)。這種安全的Wrapper結(jié)構(gòu)有效解決了測試移位過程中的安全移位問題，并且能夠降低測試數(shù)據(jù)移位過程中的動態(tài)功耗。在此基礎(chǔ)上，設(shè)計并實現(xiàn)了在Wrapper結(jié)構(gòu)下的控制器，此控制器能夠靈活實現(xiàn)Wrapper的幾種工作模式和相關(guān)指令。以減少測試時間的測試優(yōu)化為目標，本文對Wrapper和TAM的組合優(yōu)化問題進行了深入研究，提出了用勻度優(yōu)化方法來優(yōu)化Wrapper內(nèi)部掃描鏈，采用此方法能夠有效的平衡核內(nèi)部掃描鏈。根據(jù)背包算法的特點，采用改進背包問題的算法有效縮短單個IP核的測試時間。采用遺傳算法有效的解決測試調(diào)度的NP問題，詳細實
5、現(xiàn)了其過程。最后用ITC’02SOC測試基準電路進行算法驗證，與傳統(tǒng)整線性規(guī)劃算法相比，遺傳算法優(yōu)化效果良好，能有效降低SOC測試時間。關(guān)鍵詞：系統(tǒng)芯片測試外殼可復用IP核測試結(jié)構(gòu)優(yōu)化···I-···英文摘要RESEARCHONSOCTESTBASEDONREUSABLEIPCOREABSTRACTWithrapiddevelopmentofmicroelectronictechnology,integrationcircuitanditssystembecomemoreandmorecomplex.Traditionaltestmodelandtestmethodcan’tsa
6、tisfytherequestforthelarge-scaleintegrationcircuit.SOCtestmeetsnewchallenges.ReusableIPcoretestisoneofit.ReusabletestarchitectureandtestoptimizationarethetwokeypointsofreusableIPcore.Basedonthetwopoints,thispapermakesdeeplyresearchonSOC’teststructureandWrapper/TAMoptimizationmethod.Thispaperm
7、akesdeeplystudyonreusableIPcoretestarchitectureandanalyzesunsafeperformanceofIEEEP1500standardtestwrappercellarchitectureinshiftprocess.Safewrappercellarchitectureisrealized.Thesafewrapperstructurecanresolvesafeshiftproblemandreducedynamiccon
