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《x 射線熒光光譜測定氟石中的氟化鈣和雜質(zhì)的含量》由會員上傳分享，免費在線閱讀，更多相關(guān)內(nèi)容在行業(yè)資料-天天文庫。
1、``X射線熒光光譜測定氟石中的氟化鈣和雜質(zhì)的含量應曉滸林振興（寧波出入境檢驗檢疫局，寧波市柳汀街144號，315010)摘要本文采用12:22(Li2B4O7:LiBO2=12:22)作熔劑制備氟石熔融片，用波長色散X射線熒光光譜儀測定氟石中的CaF2、SiO2、Fe2O3、SO3、P2O5。本法測量準確度、精密度較好，所得結(jié)果可與濕法化學分析結(jié)果相比。關(guān)鍵詞X射線熒光，氟石。1前言氟石是我國的大宗出口礦產(chǎn)品，對外貿(mào)易合同中一般對CaF2、SiO2、Fe2O3、SO3、P2O5的含量有較嚴格的規(guī)定。常規(guī)濕法化學分析[1]存在操
2、作復雜、分析時間長等問題。本文采用熔融制樣X射線熒光光譜法測定酸級和冶金級氟石中的CaF2和雜質(zhì)的含量，消除了試樣的粒度效應和礦物效應。并且選用混合熔劑12:22，解決了硫在制樣過程中容易揮發(fā)的問題。2實驗儀器及方法2.1儀器及測量條件SRS3400型順序式X射線熒光光譜儀,銠靶X光管,功率4kW，德國Bruker公司制造，測量條件見表1。ISP4×4半自動熔樣爐，澳大利亞ISP公司。表1X射線熒光光譜儀的測量條件成分分析譜線分光晶體峰位角(°)電流(mA)電壓(kV)測量時間(s)T.CaF2CaKα1,2LiF200113
3、.130505030SiO2SiKα1,2InSb144.5931353030Fe2O3FeKα1,2LiF20057.520505030SO3SKα1,2Ge110.6701353030P2O5PKα1,2Ge140.9991353060CaF2FKα1,2OVO5543.069135303002.2試劑`````2.2.112:22，Li2B4O7:LiBO2=12:22，X射線熒光光譜分析專用試劑，經(jīng)400℃5小時灼燒；2.2.2LiBr溶液，5mg/mL；2.2.3LiNO3溶液，220mg/mL；2.2.4試料:10
4、5℃下干燥2小時,粒度過100目。2.3試料片的制備稱取12:22(2.2.1)5.000g，試料(2.2.4)1.0000g于鉑黃坩堝中，用玻璃棒混勻，加入LiBr溶液(2.2.2)和LiNO3溶液（2.2.3）各1mL，在電爐上烘干10分鐘后，放入1000℃的半自動熔樣爐中熔融，熔融過程中以每秒4次的頻率進行搖勻。10分鐘后倒入已預熱的鉑黃模具中，取出風冷5分鐘，試料片與模具自動剝離，取出待測。3實驗結(jié)果及分析3.1測量按所定的測量條件測定GBW07250~07254、CMSI、GSBD50001、GSBD50002等8個
5、標準樣品的X射線熒光強度。按隨機分析軟件SpectraPlus中的可變理論α影響系數(shù)法進行回歸及基體效應的校正，見公式1Ci=slope×(Ii+K)×(1+∑αij×Cj)(1)式中Ci、Cj：測量元素和影響元素的濃度slope、K：校準曲線的斜率和截距II：測量元素的X射線熒光強度αij：可變理論α影響系數(shù)成分的測量范圍及校準曲線的標準偏差見表2，T.CaF2表示CaF2加上以CaF2計的CaCO3的含量，測量的X射線熒光特征譜線為CaKα1,2線。CaF2測量的X射線熒光特征譜線為FKα1,2線，直接按CaF2濃度和FK
6、α1,2的X射線熒光強度進行線性回歸，不參加基體效應的校正。表2成分的測量范圍及校準曲線的標準偏差成分測量范圍(%)校準曲線的標準偏差(%)T.CaF285.23~99.160.11SiO20.69~14.150.088Fe2O30.039~0.2090.0026SO30.010~0.2250.0020P2O50.0016~0.01920.00027CaF285.21~98.900.21`````3.2試料片制備條件的影響本文曾試圖采用粉末壓片法制樣，在測量過程中發(fā)現(xiàn)試樣的粒度對測量結(jié)果影響很大，尤其SiKα1,2的強度隨著試
7、樣粒度的減小一直在增大，經(jīng)過較長時間的研磨，也未能穩(wěn)定。所以本文采用熔融制樣以消除試樣的粒度效應和礦物效應，但也帶來了熔融制樣的缺點，即熔融過程中硫的揮發(fā)和試樣被稀釋提高了檢出限。本文選用合適的試料片制備條件以減小和消除熔融制樣帶來的影響。3.2.1熔劑的選擇X射線熒光光譜分析常用的熔劑為Li2B4O7，Li2B4O7制樣重復性好，但熔融溫度一般在1100℃。根據(jù)文獻[3]介紹，在1100℃，即使樣品中的硫被氧化為SO42-，也會以硫酸鋰的形式揮發(fā)。本文選用澳大利亞用于鐵礦分析的混合熔劑12:22，以降低熔融溫度（1000℃）
8、，圖1是Li2B4O7在1100℃制樣的硫的校準曲線，圖2是12:22熔劑在1000℃制樣的硫的校準曲線?？梢娺x用12:22熔劑降低熔融溫度后有效地抑制了硫在制樣過程中的揮發(fā)。3.2.2稀釋比的選擇氟石標準樣品中磷的含量為7~84ppm，如果稀釋比過大，會影響磷的檢出限，因此
