GBT4957-2003 非磁性基體金屬上非導(dǎo)電覆蓋層 覆蓋層厚度測量 渦流法.pdf

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1、ICS25220.40A29中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003/ISO2360：1982代替GB/T4957-1985非磁性基體金屬上非導(dǎo)電覆蓋層覆蓋層厚度測量渦流法Non-conductivecoatingsonnon-magneticbasismetals-Measurementofcoatingthickness-Eddycurrent（ISO2360：1982，IDT)2003-10-29發(fā)布2004-05-01實(shí)施中華人民共和國發(fā)布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局www.bzfxw

2、.comGB/T4957--2003/ISO2360：1982前～J～藺本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO2360:1982《非磁性基體金屬上非導(dǎo)電覆蓋層覆蓋層厚度測量渦流法》（英文版）。本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T4957-1985《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量渦流方法》。本標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)ISO2360:1982作如下編輯性修改：a)用“本標(biāo)準(zhǔn)”代替“本國際標(biāo)準(zhǔn)”；b)取消了國際標(biāo)準(zhǔn)的前言；c)引用了采用國際標(biāo)準(zhǔn)的國家標(biāo)準(zhǔn)；d)增加了規(guī)范性引用文件。本標(biāo)準(zhǔn)由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準(zhǔn)化

3、技術(shù)委員會歸口。本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位：武漢材料保護(hù)研究所。本標(biāo)準(zhǔn)參加起草單位：浙江樂清市新豐企業(yè)有限公司。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：喻暉、鐘立暢、馮永春、賈建新、鄭秀林。本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：一一GB/T4957一1985。www.bzfxw.comGB/T4957一2003/ISO2360：1982非磁性基體金屬上非導(dǎo)電覆蓋層覆蓋層厚度測里渦流法范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用渦流測厚儀無損測量非磁性基體金屬上非導(dǎo)電覆蓋層厚度的方法。本方法適用于測量大多數(shù)陽極氧化膜的厚度；但它不適用于一切的轉(zhuǎn)化膜，有

4、些轉(zhuǎn)化膜因?yàn)樘《荒苡眠@種方法測量（見第7章）。本方法理論上能測量磁性基體金屬上覆蓋層的厚度，但不予推薦。在這種情況下，應(yīng)采用GB/T4956中所規(guī)定的磁性方法進(jìn)行測量。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T4956磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測量磁性法（

5、(ISO2178;1982,IDT)3原理渦流測厚儀器測頭裝置中產(chǎn)生的高頻電磁場，將在置于測頭下面的導(dǎo)體中產(chǎn)生渦流，渦流的振幅和相位是存在于導(dǎo)體和測頭之間的非導(dǎo)電覆蓋層厚度的函數(shù)。4影響測f準(zhǔn)確度的因素下列因素可能影響覆蓋層厚度測量的準(zhǔn)確度。4.1班蓋層厚度測量不確定度是本方法固有的。對于薄覆蓋層測量的不確定度（確切地說）是恒定值，與覆蓋層厚度無關(guān)，對于每一單次測量而言至少是0.5dim。對于厚度約大于25tLrn的覆蓋層，測量的不確定度等于某一近似恒定的分?jǐn)?shù)與覆蓋層厚度的乘積。如果對厚度等于或小

6、于5tLm的覆蓋層測量時，要取幾個讀數(shù)的平均值。厚度小于3}Lm的覆蓋層厚度測量可能達(dá)不到第7章規(guī)定的準(zhǔn)確度要求。4.2基體金屬的電性能用渦流儀器測量厚度會受基體金屬電導(dǎo)率的影響，金屬的電導(dǎo)率與材料的成分及熱處理有關(guān)。電導(dǎo)率對測量的影響隨儀器的制造和型號不同而有明顯的差異。4.3基體金屬的厚度每一臺儀器都有一個基體金屬的臨界厚度，大于這個厚度，測量將不受基體金屬厚度增加的影響。由于臨界厚度既取決于測頭系統(tǒng)的測量頻率又取決于基體金屬的電導(dǎo)率，因此，臨界厚度值應(yīng)通過實(shí)驗(yàn)確定，除非制造商對此有規(guī)定。通常

7、，對于一定的測量頻率，基體金屬的電導(dǎo)率愈高，其臨界厚度越??；對于一定的基體金屬，測量頻率越高，基體金屬的臨界厚度越小。4.4邊緣效應(yīng)渦流儀器對試樣表面的不連續(xù)敏感，因此，太靠邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測量將是不可靠的，除非儀器專www.bzfxw.comGs/T4957-2003ASO2360：1982門為這類測量進(jìn)行了校準(zhǔn)。4.5曲率試樣的曲率影響測量。曲率的影響因儀器制造和類型的不同而有很大的差異，但總是隨曲率半徑的減少而更為明顯。因此，在彎曲的試樣上進(jìn)行測量將是不可靠的，除非儀器為這類測量作了專門的校

8、準(zhǔn)。4.6表面粗糙度基體金屬和覆蓋層的表面形貌對測量有影響。粗糙表面既能造成系統(tǒng)誤差又能造成偶然誤差；在不同的位置上作多次測量能降低偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還需要在未涂覆的粗糙基體金屬試樣上的若干位置校驗(yàn)儀器零點(diǎn)。如果沒有適合的未涂覆的相同基體金屬，應(yīng)用不浸蝕基體金屬的溶液除去試樣上的覆蓋層。4.7外來附特塵埃渦流儀器的測頭必須與試樣表面緊密接觸，因?yàn)閮x器對妨礙測頭與筱蓋層表面緊密接觸的外來物質(zhì)十分敏感。應(yīng)該檢查測頭前端的清潔度。4.8測頭壓力使測頭緊貼試樣所施加的壓力影響儀器