GBT4956-2003 磁性基體上非磁性覆蓋層 覆蓋層厚度測量 磁性法.pdf

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1、ICS25.220.40A29中華人民共和國國家標準GB/T4956-2003/ISO2178：1982代替GB/T4956-1985磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測量磁性法Non-magneticcoatingsonmagneticsubstrates-Measurementofcoatingthickness-Magneticmethod（ISO2178：1982，IDT)2003-10-29發(fā)布2004-05-01實施中華人民共和國發(fā)布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局GB/T4956--2003/ISO2178:1982．J－目目．．前．．．門本標準等同采用ISO217

2、8:1982(磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測量磁性法）（英文版）本標準代替GB/T4956-1985(磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量磁性方法》。本標準根據(jù)ISO2178:1982作如下編輯性修改：a）用“本標準”代替“本國際標準”；b)取消了國際標準的前言；c)為便于使用，引用了采用國際標準的國家標準；d）增加了規(guī)范性引用文件。本標準由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出。本標準由全國金屬與非金屬覆蓋層標準化技術(shù)委員會歸口。本標準負責起草單位：武漢材料保護研究所。本標準參加起草單位：浙江樂清市新豐企業(yè)有限公司。本標準主要起草人：喻暉、鐘立暢、馮永春、賈建新、鄭秀林。本標準所代

3、替標準的歷次版本發(fā)布情況為：－－一（TB/T4956一1985。GB/T4956-2003/ISO2178：1982磁性基體上非磁性覆蓋層菠蓋層厚度測t磁性法范圍本標準規(guī)定了使用磁性測厚儀無損測量磁性基體金屬上非磁性覆蓋層（包括釉瓷和搪瓷層）厚度的方法。本方法僅適用于在適當平整的試樣上的測量。非磁性基體上的鎳筱蓋層厚度測量優(yōu)先采用GB/T13744規(guī)定的方法。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標準，然而，鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最

4、新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標準。GB/T12334金屬和其他非有機覆蓋層關(guān)于厚度測量的定義和一般規(guī)則（idtISO2064)GB/T13744磁性和非磁性基體上鎳電鍍層厚度的測量（eqvISO2361)3原理磁性測厚儀測量永久磁鐵和基體金屬之間的磁引力，該磁引力受到覆蓋層存在的影響；或者測量穿過菠蓋層與基體金屬的磁通路的磁阻。4影響測f準確度的因素”下列因素可能影響覆蓋層厚度測量的準確度。4.1班蓋層厚度測量準確度隨覆蓋層厚度的變化取決于儀器的設(shè)計。對于薄的覆蓋層，其測量準確度與覆蓋層的厚度無關(guān)，為一常數(shù)；對于厚的覆蓋層，其測量準確度等于某一近似

5、恒定的分數(shù)與厚度的乘積。4.2基體金屬的磁性基體金屬磁性的變化能影響磁性法厚度的測量。為了實際應(yīng)用的目的，可認為低碳鋼的磁性變化是不重要的。為了避免各不相同的或局部的熱處理和冷加工的影響，儀器應(yīng)采用性質(zhì)與試樣基體金屬相同的金屬校準標準片進行校準；可能的話，最好采用待鍍覆的零件作標樣進行儀器校準。4.3基體金屬的厚度對每一臺儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于此臨界厚度時，金屬基體厚度增加，測量將不受基體金屬厚度增加的影響。臨界厚度取決于儀器測頭和基體金屬的性質(zhì)，除非制造商有所規(guī)定，臨界厚度的大小應(yīng)通過試驗確定。4.4邊緣效應(yīng)本方法對試樣表面的不連續(xù)敏感，因此，太靠近邊緣

6、或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測量將是不可靠的，除非儀器專門為這類測量進行了校準。這種邊緣效應(yīng)可能從不連續(xù)處開始向前延伸大約20mm，這取決于儀器本身。1)針對本標準，測量不確定度定義為：采用正確校準和正確使用的儀器而得到的不確定的測量結(jié)果。GB/T4956-2003/1502178：19824.5曲率試樣的曲率影響測量。曲率的影響因儀器制造和類型的不同而有很大差異，但總是隨曲率半徑的減小而更為明顯。如果在使用雙極式測頭儀器時，將兩極匹配在平行于圓柱體軸向的平面內(nèi)進行測量或匹配在垂直于圓柱體軸向的平面內(nèi)進行測量，也可能得到不同的讀數(shù)。如果單極式測頭的前端磨損不均勻也能產(chǎn)生同樣的結(jié)果。因此

7、，在彎曲試樣上進行測量可能是不可靠的，除非儀器為這類測量作了專門的校準。4.6表面粗糙度如果在粗糙表面上的同一參比面〔見GB/T12334)內(nèi)測得的一系列數(shù)值的變動范圍明顯超過儀器固有的重現(xiàn)性，則所需的測量次數(shù)至少應(yīng)增加到5次。4.7基體金屬機械加工方向使用具有雙極式測頭或已不均勻磨損的單極式測頭儀器進行測量，可能受磁性基體金屬機械加工（如軋制）方向的影響，讀數(shù)隨測頭在表面上的取向而異。4.8剩磁基體金屬的剩磁可能影響使用固定磁場的測厚儀的測量值，但對使用交變磁場的磁阻型儀器的測量的影響很小（見6.7).4.9磁場強磁場，例如各種電器設(shè)備