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《GBT4956-2003-磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測量磁性法.pdf》由會員上傳分享，免費在線閱讀，更多相關內(nèi)容在行業(yè)資料-天天文庫。
1、GB/T4956-2003/ISO2178:1982月明呂本標準等同采用ISO2178:1982《磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測量磁性法)(英文版)本標準代替GB/T4956-1985(磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量磁性方法》。本標準根據(jù)ISO2178:1982作如下編輯性修改:a)用“本標準”代替“本國際標準，’ib)取消了國際標準的前言;c)為便于使用，引用了采用國際標準的國家標準;d)增加了規(guī)范性引用文件。本標準由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出。本標準由全國金屬與非金屬覆蓋層標準化技術委員會歸口。本標準負責起草單位:武漢材料保護研究所。本標準參
2、加起草單位:浙江樂清市新豐企業(yè)有限公司。本標準主要起草人:喻暉、鐘立暢、馮永春、賈建新、鄭秀林。本標準所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為:-GB/T4956-1985GB/T4956-2003八SO2178:1982磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測量磁性法范圍本標準規(guī)定了使用磁性測厚儀無損測量磁性基體金屬上非磁性覆蓋層(包括釉瓷和搪瓷層)厚度的方法。本方法僅適用于在適當平整的試樣上的測量。非磁性基體上的鎳覆蓋層厚度測量優(yōu)先采用GB/T13744規(guī)定的方法。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標準的引用而成為本標準的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所
3、有的修改單(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標準，然而，鼓勵根據(jù)本標準達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標準。GB/T12334金屬和其他非有機覆蓋層關于厚度測量的定義和一般規(guī)則(idtISO2064)GB/T13744磁性和非磁性基體卜鎳電鍍層厚度的測量(eavISO2361)3原理磁性測厚儀測量永久磁鐵和基體金屬之間的磁引力，該磁引力受到覆蓋層存在的影響;或者測量穿過覆蓋層與基體金屬的磁通路的磁阻。4影響測量準確度的因素’)下列因素可能影響覆蓋層厚度測量的準確度。4.1覆蓋層厚度測量準
4、確度隨覆蓋層厚度的變化取決于儀器的設計。對于薄的覆蓋層，其測量準確度與覆蓋層的厚度無關，為一常數(shù);對于厚的覆蓋層，其測量準確度等于某一近似恒定的分數(shù)與厚度的乘積。4.2基體金屬的磁性基體金屬磁性的變化能影響磁性法厚度的測量。為了實際應用的目的，可認為低碳鋼的磁性變化是不重要的。為了避免各不相同的或局部的熱處理和冷加工的影響，儀器應采用性質與試樣基體金屬相同的金屬校準標準片進行校準;可能的話，最好采用待鍍覆的零件作標樣進行儀器校準。4.3基體金屬的厚度對每一臺儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于此臨界厚度時，金屬基體厚度增加，測量將不受基體金屬厚度增加
5、的影響。臨界厚度取決于儀器測頭和基體金屬的性質，除非制造商有所規(guī)定，臨界厚度的大小應通過試驗確定。4.4邊緣效應本方法對試樣表面的不連續(xù)敏感，因此，太靠近邊緣或內(nèi)轉角處的測量將是不可靠的，除非儀器專門為這類測量進行了校準。這種邊緣效應可能從不連續(xù)處開始向前延伸大約20mm，這取決于儀器本身。1)針對本標準，測量不確定度定義為:采用正確校準和正確使用的儀器而得到的不確定的測量結果GB/T4956-2003/LSO2178:19824.5曲率試樣的曲率影響測量。曲率的影響因儀器制造和類型的不同而有很大差異，但總是隨曲率半徑的減小而更為明顯。如果在使用雙極
6、式測頭儀器時，將兩極匹配在平行于圓柱體軸向的平面內(nèi)進行測量或匹配在垂直于圓柱體軸向的平面內(nèi)進行測量，也可能得到不同的讀數(shù)。如果單極式測頭的前端磨損不均勻也能產(chǎn)生同樣的結果。因此，在彎曲試樣上進行測量可能是不可靠的，除非儀器為這類測量作了專門的校準4.6表面粗糙度如果在粗糙表面上的同一參比面(見GB/T12334)內(nèi)測得的一系列數(shù)值的變動范圍明顯超過儀器固有的重現(xiàn)性，則所需的測量次數(shù)至少應增加到5次。4.7基體金屬機械加工方向使用具有雙極式測頭或已不均勻磨損的單極式測頭儀器進行測量，可能受磁性基體金屬機械加工(如軋制)方向的影響，讀數(shù)隨測頭在表面上的取
7、向而異。48剩磁基體金屬的剩磁可能影響使用固定磁場的測厚儀的測量值，但對使用交變磁場的磁阻型儀器的測量的影響很小(見6.7),4.9磁場強磁場，例如各種電器設備產(chǎn)生的強磁場，能嚴重地干擾使用固定磁場的測厚儀的工作(見6.7)04.10外來附，塵埃儀器測頭必須與試樣表面緊密接觸，因為這些儀器對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的外來物質敏感。應檢查測頭前端的清潔度。4.”覆蓋層的導電性某些磁性測厚儀的工作頻率在200Hz-2000H:之間.在這個頻率范圍內(nèi)，高導電性厚筱蓋層內(nèi)產(chǎn)生的渦流，可能影響讀數(shù)。4.12測頭壓力施加于測頭電極上的壓力必須適當、恒定，使軟
8、的覆蓋層都不致變形。另一方面，軟的搜蓋層可用金屬箔覆蓋住再測量，然后從測量值中減去金屬箔的厚度。如果測量磷化
