教育測量數(shù)據(jù)處理

《教育測量數(shù)據(jù)處理》由會(huì)員上傳分享，免費(fèi)在線閱讀，更多相關(guān)內(nèi)容在教育資源-天天文庫。

1、第六章教育測量數(shù)據(jù)處理教學(xué)目標(biāo)理解基本概念掌握測量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)描述方法掌握測量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)方法掌握測試數(shù)據(jù)的結(jié)構(gòu)分析方法掌握測量的質(zhì)量分析方法了解項(xiàng)目反映理論第六章　教育測量數(shù)據(jù)處理參考書目“教育測量”相關(guān)《SPSS在教育統(tǒng)計(jì)中的應(yīng)用》（楊曉明高等教育出版社）《教育技術(shù)學(xué)研究方法基礎(chǔ)》（謝幼如，李克東高等教育出版社）《教育技術(shù)學(xué)研究方法》（李克東北京師大出版社）第六章　教育測量數(shù)據(jù)處理第一節(jié)基本概念-教育測量·教育測量物理測量:對物質(zhì)現(xiàn)象的測量心理測量:對精神現(xiàn)象的測量教育測量是依據(jù)一定的法則（標(biāo)

2、準(zhǔn)），用數(shù)值來描述與教育活動(dòng)直接相關(guān)的事物的屬性。教育測量是教育評價(jià)的基礎(chǔ)。第六章　教育測量數(shù)據(jù)處理第一節(jié)基本概念-教育測量·教育測量數(shù)據(jù)類別1.名義尺度2.序數(shù)尺度3.距離尺度4.比例尺度第六章　教育測量數(shù)據(jù)處理P17-18第一節(jié)基本概念-教育測量·教育測量的誤差1.誤差:隨機(jī)誤差、系統(tǒng)誤差2.設(shè)，觀察分?jǐn)?shù)X,真分?jǐn)?shù)T，則誤差E=X-T相對誤差=E/T最大相對誤差=E/X3.誤差來源測量本身實(shí)施過程被試第六章　教育測量數(shù)據(jù)處理第一節(jié)基本概念-教育測試·教育測試測試是教育測量的主要工具.指對學(xué)習(xí)者

3、的學(xué)習(xí)信息進(jìn)行有組織、有系統(tǒng)地收集，并通過對這些信息的處理作出確切判斷和適當(dāng)決定的科學(xué)手段和工具。測試的目的是實(shí)現(xiàn)個(gè)人、集團(tuán)的技能、知識(shí)、能力、適應(yīng)性的測定。第六章　教育測量數(shù)據(jù)處理第一節(jié)基本概念-教育測試·測試分類1.器具測試與紙筆測試:2.客觀測試與非客觀測試:3.綜合測試與分析測試:4.標(biāo)準(zhǔn)測試與非標(biāo)準(zhǔn)測試:5.集團(tuán)基準(zhǔn)測試與達(dá)到基準(zhǔn)測試:第六章　教育測量數(shù)據(jù)處理第一節(jié)基本概念-教育測試·測試?yán)碚?.經(jīng)典的測試?yán)碚?基于統(tǒng)計(jì)2.項(xiàng)目反應(yīng)理論:基于參數(shù)第六章　教育測量數(shù)據(jù)處理第一節(jié)基本概念-經(jīng)

4、典測試?yán)碚?CTT)·經(jīng)典測試?yán)碚摶炯僭O(shè)1.心理特質(zhì)是可測的2.CTT的誤差模型測試得分X與真分T之間是線性關(guān)系即X=T+E(1)若平行測試的次數(shù)足夠多，則誤差平均值趨于“0”，即ε(X)=T或ε(E)=0(2)測試得分與誤差相關(guān),真分與誤差相互獨(dú)立(3)各平行測試上的誤差相互獨(dú)立第六章　教育測量數(shù)據(jù)處理第一節(jié)基本概念-統(tǒng)計(jì)描述方法數(shù)據(jù)檢查數(shù)據(jù)分類數(shù)據(jù)排序特征參數(shù)計(jì)算數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)表數(shù)據(jù)圖示法第六章　教育測量數(shù)據(jù)處理第二節(jié)測量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)描述·特征參數(shù)－集中量:平均數(shù)X：中數(shù)：一組大小排列的數(shù)據(jù)中位置居

5、中的數(shù)。奇數(shù)個(gè)數(shù)：偶數(shù)個(gè)數(shù)：最中間兩數(shù)的平均眾數(shù)：一組數(shù)據(jù)中出現(xiàn)次數(shù)最多的數(shù)第六章　教育測量數(shù)據(jù)處理第二節(jié)測量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)描述·特征參數(shù)－差異量:全距：最大值-最小值方差(分散)Sx2：-P112標(biāo)準(zhǔn)差(標(biāo)準(zhǔn)偏差)Sx：-P113差異系數(shù)：標(biāo)準(zhǔn)差Sx平均數(shù)XCV<9%,基本無分化CV>20%,分化嚴(yán)重第六章　教育測量數(shù)據(jù)處理CV=第二節(jié)測量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)描述·特征參數(shù)－頻數(shù)分布次數(shù)分布表次數(shù)分布曲線:峰的數(shù)量：峰的高低：高峰態(tài)，低峰態(tài)峰的對稱性：正態(tài)分布、偏態(tài)分布第六章　教育測量數(shù)據(jù)處理標(biāo)準(zhǔn)差較小、分?jǐn)?shù)

6、分布高窄、集中在平均數(shù)兩側(cè)標(biāo)準(zhǔn)差較大、分?jǐn)?shù)分布低闊單峰、對稱兩頭底、中間高鐘形曲線第二節(jié)測量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)描述·X-S平面特征數(shù)據(jù)分析模型第六章　教育測量數(shù)據(jù)處理第二節(jié)測量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)描述·測試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換原始分?jǐn)?shù)與導(dǎo)出分?jǐn)?shù):百分排位:=（累積頻度/被試人數(shù)）*100Z分?jǐn)?shù):Z=(X-X)/ST分?jǐn)?shù):T=10Z+50GEEB分?jǐn)?shù):=100Z+50TOEFL分?jǐn)?shù):=70Z+500離差智商:=15Z+100多級(jí)評定值:第六章　教育測量數(shù)據(jù)處理第二節(jié)測量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)描述·相關(guān)量:兩組數(shù)據(jù)間的關(guān)系協(xié)方差(共分散)Sx

7、y-P113相關(guān)系數(shù)rxy-P114第六章　教育測量數(shù)據(jù)處理相關(guān)強(qiáng)度：強(qiáng)(>0.8)、中等(0.4～0.79)、弱(0.2～0.39)、極弱(<0.2)相關(guān)方向：>0正相關(guān)<0負(fù)相關(guān)確定系數(shù)：=r2*100%第三節(jié)測量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)是先對總體的分布規(guī)律作出某種假說，然后根據(jù)樣本提供的數(shù)據(jù)，通過統(tǒng)計(jì)運(yùn)算，根據(jù)運(yùn)算結(jié)果，對假說作出肯定或否定的決策。第六章　教育測量數(shù)據(jù)處理第三節(jié)測量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)基本原理：概率論中的“小概率事件實(shí)際上的不可能性”原理。一般方法：如果現(xiàn)要檢驗(yàn)實(shí)驗(yàn)組和對照組的平均數(shù)（μ1和

8、μ2）有沒有差異，其步驟為：1.建立虛無假設(shè)，即先認(rèn)為兩者沒有差異，用H0:μ1=μ2表示；2.通過統(tǒng)計(jì)運(yùn)算，確定假設(shè)H0成立的概率P；3.根據(jù)P的大小，判斷假設(shè)H0是否成立。第六章　教育測量數(shù)據(jù)處理第三節(jié)測量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)檢驗(yàn)Z檢驗(yàn)-大樣本（樣本容量大于30）平均數(shù)差異的顯著性檢驗(yàn)1.建立虛無假設(shè)H0:μ1=μ2，即先假定兩個(gè)平均數(shù)之間沒有顯著差異。2.計(jì)算統(tǒng)計(jì)量Z值：3.依據(jù)計(jì)算所得Z值、Z值與差異顯著性關(guān)系表作出判斷。4.結(jié)合以上分析和具體情況，作出結(jié)論。第六章　教育測量數(shù)據(jù)處理