半導(dǎo)體元器件地可焊性測(cè)試方法研究

半導(dǎo)體元器件地可焊性測(cè)試方法研究

ID:42977685

大?。?.28 MB

頁(yè)數(shù):53頁(yè)

時(shí)間:2019-09-24

半導(dǎo)體元器件地可焊性測(cè)試方法研究_第1頁(yè)
半導(dǎo)體元器件地可焊性測(cè)試方法研究_第2頁(yè)
半導(dǎo)體元器件地可焊性測(cè)試方法研究_第3頁(yè)
半導(dǎo)體元器件地可焊性測(cè)試方法研究_第4頁(yè)
半導(dǎo)體元器件地可焊性測(cè)試方法研究_第5頁(yè)
資源描述:

《半導(dǎo)體元器件地可焊性測(cè)試方法研究》由會(huì)員上傳分享,免費(fèi)在線閱讀,更多相關(guān)內(nèi)容在工程資料-天天文庫(kù)

1、實(shí)用標(biāo)準(zhǔn)文檔學(xué)校代碼:10289分類號(hào):TP306密級(jí):公開半導(dǎo)體元器件的可焊性測(cè)試方法研究許峰江蘇科技大學(xué)學(xué)號(hào):103030013江蘇科技大學(xué)碩士學(xué)位論文(工程碩士)半導(dǎo)體元器件的可焊性測(cè)試方法研究研究生姓名許峰導(dǎo)師姓名朱志宇申請(qǐng)學(xué)位類別工程碩士學(xué)位授予單位江蘇科技大學(xué)學(xué)科專業(yè)電子與通信工程論文提交日期2013年5月19日研究方向半導(dǎo)體可靠性研究論文答辯日期2014年3月16日文案大全實(shí)用標(biāo)準(zhǔn)文檔答辯委員會(huì)主席林明評(píng)閱人2014年3月14日分類號(hào):TN306密級(jí):公開         學(xué)號(hào):103030013工學(xué)碩士學(xué)位論文(工

2、程碩士)半導(dǎo)體元器件的可焊性測(cè)試方法的研究學(xué)生姓名許峰文案大全實(shí)用標(biāo)準(zhǔn)文檔指導(dǎo)教師朱志宇教授江蘇科技大學(xué)二O一四年三月文案大全實(shí)用標(biāo)準(zhǔn)文檔AThesisSubmittedinFulfillmentoftheRequirementsfortheDegreeofMasterofEngineeringSemiconductorcomponentsofthesolderabilitytestmethodresearchSubmittedbyXufengSupervisedbyProfessorZhuzhiyu文案大全實(shí)用標(biāo)準(zhǔn)文檔Jiang

3、suUniversityofScienceandTechnologyMarch,2014文案大全實(shí)用標(biāo)準(zhǔn)文檔論文獨(dú)創(chuàng)性聲明?本人聲明所呈交的學(xué)位論文是我本人在導(dǎo)師指導(dǎo)下進(jìn)行的研究工作及取得的研究成果。盡我所知,除了文中特別加以標(biāo)注和致謝的地方外,論文中不包含其他人已經(jīng)發(fā)表或撰寫過(guò)的研究成果,也不包含為獲得江蘇科技大學(xué)或其它教育機(jī)構(gòu)的學(xué)位或證書而使用過(guò)的材料。與我一同工作的同志對(duì)本研究所做的任何貢獻(xiàn)均已在論文中作了明確的說(shuō)明并表示謝意。??學(xué)位論文作者簽名:日期:學(xué)位論文使用授權(quán)聲明?江蘇科技大學(xué)有權(quán)保存本人所送交的學(xué)位論文的復(fù)印件

4、和電子文稿,可以將學(xué)位論文的全部或部分上網(wǎng)公布,有權(quán)向國(guó)家有關(guān)部門或機(jī)構(gòu)送交并授權(quán)其保存、上網(wǎng)公布本學(xué)位論文的復(fù)印件或電子文稿。本人電子文稿的內(nèi)容和紙質(zhì)論文的內(nèi)容一致。除在保密期內(nèi)的保密論文外,允許論文被查閱和借閱。?研究生簽名:導(dǎo)師簽名:日期:日期:文案大全實(shí)用標(biāo)準(zhǔn)文檔摘要隨著半導(dǎo)體技術(shù)的迅速發(fā)展,電子產(chǎn)品的已進(jìn)入各行各業(yè),涉及航空航天、機(jī)械制造、電子商務(wù)等,可以說(shuō),我們大家的生活已無(wú)法離開電子產(chǎn)品。可焊性測(cè)試是電子產(chǎn)品生產(chǎn)制造過(guò)程中檢驗(yàn)產(chǎn)品可焊接性能的一種必要手段。產(chǎn)品引線的焊接性能將直接影響到產(chǎn)品的使用,嚴(yán)重的焊接不良甚至?xí)?/p>

5、影響到整機(jī)的可靠性。而且此類不良很多是間歇性的,有時(shí)會(huì)影響維修人員對(duì)故障的判斷,造成一些不必要的損失。本文著重介紹了各類可焊性測(cè)試方法在元器件生產(chǎn)中的實(shí)際應(yīng)用,以及使用方法中的一些關(guān)鍵點(diǎn)。通過(guò)在工作中的實(shí)際應(yīng)用,結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)的要點(diǎn)和產(chǎn)品的特點(diǎn),在不違背標(biāo)準(zhǔn)的情況下,針對(duì)各類不同的產(chǎn)品,使用不同的測(cè)試方法進(jìn)行檢測(cè),這樣能更有效的反應(yīng)產(chǎn)品的可焊接性能。特別是針對(duì)一些短引腳、無(wú)引腳產(chǎn)品,如何使用合適的方法,甚至說(shuō)使用更有說(shuō)服力的潤(rùn)濕法來(lái)進(jìn)行檢測(cè)。這些方法的研究,將有利于封裝廠在生產(chǎn)過(guò)程中改進(jìn)產(chǎn)品電鍍品質(zhì)的檢測(cè)方法,能更快、更有效的發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的

6、電鍍?nèi)毕?,及時(shí)調(diào)整生產(chǎn)工藝的,提高產(chǎn)品質(zhì)量,滿足客戶的需求。關(guān)鍵詞:可焊性;方法;標(biāo)準(zhǔn);半導(dǎo)體元器件文案大全實(shí)用標(biāo)準(zhǔn)文檔AbstractWiththerapiddevelopmentofsemiconductortechnology,electronicproductshasenteredintoallwalksoflife,involvedinaerospace,mechanicalmanufacturing,electroniccommerceandsoon,inotherwords,ourlifecannotleavethe

7、electronicproducts.Solderabilitytestisanecessarymeantoinspecttheproductsolderabilityduringtheelectronicproductmanufacturingprocess.Thesolderabilityoftheleadwilldirectlyaffecttheproductusing;seriousbadsolderingmayevenaffectthereliabilityofthemachine.Andsuchbadsoldering

8、isintermittent;sometimesitwillaffectmaintenancepersonnel’sjudgmentforfault,causingsomeunnecessaryloss.Thisarticleemphaticall

當(dāng)前文檔最多預(yù)覽五頁(yè),下載文檔查看全文

此文檔下載收益歸作者所有

當(dāng)前文檔最多預(yù)覽五頁(yè),下載文檔查看全文
溫馨提示:
1. 部分包含數(shù)學(xué)公式或PPT動(dòng)畫的文件,查看預(yù)覽時(shí)可能會(huì)顯示錯(cuò)亂或異常,文件下載后無(wú)此問題,請(qǐng)放心下載。
2. 本文檔由用戶上傳,版權(quán)歸屬用戶,天天文庫(kù)負(fù)責(zé)整理代發(fā)布。如果您對(duì)本文檔版權(quán)有爭(zhēng)議請(qǐng)及時(shí)聯(lián)系客服。
3. 下載前請(qǐng)仔細(xì)閱讀文檔內(nèi)容,確認(rèn)文檔內(nèi)容符合您的需求后進(jìn)行下載,若出現(xiàn)內(nèi)容與標(biāo)題不符可向本站投訴處理。
4. 下載文檔時(shí)可能由于網(wǎng)絡(luò)波動(dòng)等原因無(wú)法下載或下載錯(cuò)誤,付費(fèi)完成后未能成功下載的用戶請(qǐng)聯(lián)系客服處理。