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《X射線熒光光譜法測定陶瓷、色料和釉等物料中主量及次量元素-論文.pdf》由會員上傳分享，免費在線閱讀，更多相關(guān)內(nèi)容在行業(yè)資料-天天文庫。
1、第4卷第3期中國無機分析化學(xué)Vo1．4，NO．32014年9月ChineseJournalofInorganicAnalyticalChemistry52～56doi：10．3969／J．issn．2095‘1035．2014．03．011X射線熒光光譜法測定陶瓷、色料和釉等物料中主量及次量元素王川李小莉。李國會。劉峰(1甘肅省有色金屬地質(zhì)勘察局中心實驗室，蘭州730046；2天津地質(zhì)礦產(chǎn)研究所，天津300000；3中國地質(zhì)科學(xué)院物化探研究所，河北廊坊065000；4武警黃金二支隊，呼和浩特010010)摘要采用熔融片制樣用X射線熒光光
2、譜法對陶瓷、色料和釉物料中Na，Mg，A1，Si，P，S，K，Ca，Ti，Mn，F(xiàn)e，Ba，Zr，Zn，Hf15種元素進行了測定，用理論系數(shù)校正基體效應(yīng)。方法簡便、快速、分析結(jié)果的準(zhǔn)確度完全能滿足上述物料分析的要求。還用純化學(xué)試劑和標(biāo)準(zhǔn)樣品按一定比例混合制備標(biāo)準(zhǔn)樣品，彌補了色料和釉缺少標(biāo)準(zhǔn)或沒有標(biāo)樣的困難。又對zr和Hf元素分析線進行了選擇，用ZrL和HfL作為分析線，而不采用ZrK。，不僅使制備的熔片達到ZrL線的飽和厚度，使分析結(jié)果的準(zhǔn)確度和重現(xiàn)性好，而且還消除了ZrK的譜線對HfL。分析線的干擾。關(guān)鍵詞波長色散X射線熒光光譜；陶瓷
3、；色料；釉；熔融片中圖分類號：0657．34；TH744．15文獻標(biāo)志碼：A文章編號：2095—1035(2014)03—0052—05DeterminationofMajorandMinorElementsinCeramic，StainGlazeMaterialsbyX—RayFluorescenceSpectrometryWANGChuan，LIXiaoli。，LIGuohui。，LIUFeng(1．CenterLaboratory，GansuBureauofGeologyandExplorationforNonferrousMet
4、als，Gansu，Lanzhou730046，China；2．TianjinInstituteofGeologyandMinerals，Tianjin300000，China；3．InstituteofGeophysicalandGeochemicalExploration，ChineseAcademyofGeologicalSciences，Langfang，Hebei065000，China；4．ArmedPoliceGolden2Team，Hohhot，InnerMongolia010010，China)AbstractThec
5、ontentsoffifteenelementsinceramic，stain，andglazematerials，etc．，whichincludingNa，Mg，Al，Si，P，S，K，Ca，Ti，Mn，F(xiàn)e，Ba，Zr，HfandZn，weredeterminedinceramic，stain，glaze，etc．，usingX—rayfluorescencespectrometryusingfusionsamplepreparation．Thematrixeffectwascorrectedbythetheoreticalcoe
6、fficienta．Themethodissimpleandrapid，anditprovidesbetterprecisionandaccuracywhenitwasappliedtOthedeterminetheelementsintheaforementionedmaterials．Asimulatedstandardsamplewaspreparedbythemixingcertainproportionofpurechemicalreagentwithstandardsamplestomakeupthelackofstanda
7、rdsorstandardsamplesofglazesandstains．Atthesametime，thedeterminationlinesZrK。andHfL，whichareforZrandHf，werereplacedbyZrLandHfI81，respectively．Undertheoptimizedconditions，notonlythethicknessofthefusedfilmreacheduptOthesaturationvalueofZrL，whichimprovedtheprecisionandaccur
8、acyofthedeterminationresults，butalsotheinterferenceofZrKonHfLBlwereeliminated．KeywordsX-rayfluorescence
