地層剖面實(shí)測(cè)方法.ppt

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1、地層剖面實(shí)測(cè)方法提綱剖面測(cè)制目的、任務(wù)剖面測(cè)制的技術(shù)要求剖面測(cè)制工作流程剖面測(cè)制記錄內(nèi)容、格式剖面測(cè)制的方法與注意事項(xiàng)室內(nèi)整理與作圖剖面測(cè)制目的、任務(wù)劃分地層、建立地層單位各巖石地層單位組成、結(jié)構(gòu)、基本層序、地層標(biāo)志及相序特征，上下地層間接觸關(guān)系，巖石地球化學(xué)特征及含礦性，磁性特征等等；各生物地層單位代表性化石、組合特征、延限；研究物理作用過(guò)程各類(lèi)巖石成因及組合；四維時(shí)、空相互關(guān)系；研究不同地層間相互關(guān)系剖面測(cè)制的技術(shù)要求剖面選擇與布置層序完整、露頭連續(xù)、構(gòu)造簡(jiǎn)單、接觸關(guān)系清楚、化石豐富、巖性組合

2、與厚度具有代表性、通達(dá)條件較好；剖面線原則上垂直所要控制的地質(zhì)體的走向，一般情況下兩者間夾角不宜小于60°；本次實(shí)測(cè)剖面為黃院東山梁，控制層位為Qbc、?1f、?1-2m、?2x、?2z，?h3,O1y,O1l,O1m基本上垂直各地層界線剖面的比例尺確定根據(jù)規(guī)范要求和實(shí)測(cè)對(duì)象具體而定，原則上能反映最小厚度的地層單位，常用的比例尺為1:500~1:5000。本次實(shí)測(cè)剖面比例尺定為1:1000剖面測(cè)制的技術(shù)要求3.剖面數(shù)量原則上依據(jù)實(shí)際地質(zhì)情況的復(fù)雜程度、延伸情況而定；單幅圖地層剖面每個(gè)填圖單位至少有

3、1—2條主干剖面加以控制，聯(lián)測(cè)圖幅每個(gè)填圖單位有2—3條主干剖面加以控制。本次實(shí)習(xí)只實(shí)測(cè)一條剖面，目的是要掌握地層剖面實(shí)測(cè)方法。4.剖面實(shí)測(cè)人員構(gòu)成及分工原則上要求3-6人，其中分層、記錄、前測(cè)手、后測(cè)手、樣品或標(biāo)本采集、產(chǎn)狀測(cè)量各1人剖面測(cè)制的技術(shù)要求5.剖面觀測(cè)的要點(diǎn)分層：可以單一巖性層、也可以復(fù)合層，內(nèi)部基本連續(xù)，與上、下鄰層宏觀易區(qū)分。復(fù)合層還可以是旋回或韻律，但每一旋回或韻律的組成結(jié)構(gòu)造數(shù)據(jù)必須描述清楚：巖性：用顏色+層厚+結(jié)構(gòu)+成分命名方式先概況，然后補(bǔ)充描述具體特征。詳細(xì)描述參閱所講

4、《沉積地層野外工作方法》；化石：門(mén)類(lèi)組合特征、個(gè)體形態(tài)、保存狀況、分布狀態(tài)與巖性及沉積構(gòu)造間關(guān)系、排列優(yōu)選方位和遺跡化石；剖面測(cè)制的技術(shù)要求5.剖面觀測(cè)的要點(diǎn)4）沉積構(gòu)造：分布層位、形態(tài)、類(lèi)型及線和面（含層面）產(chǎn)狀，必要時(shí)應(yīng)作素描圖5）正常層序的識(shí)別與接觸關(guān)系：示頂構(gòu)造如斜層理、波痕、沖蝕痕、溝槽模、泥裂、遺跡化石、鳥(niǎo)眼構(gòu)造等；后期變形構(gòu)造如軸面劈理與層理交切關(guān)系等；接觸關(guān)系：整合接觸、平行不整合接觸、角度不整合接觸剖面測(cè)制的技術(shù)要求5.剖面觀測(cè)的要點(diǎn)6）采樣：種類(lèi)和數(shù)量應(yīng)根據(jù)地質(zhì)情況、區(qū)域地質(zhì)研

5、究程度及持續(xù)術(shù)要求等綜合考慮。常用的樣品有：代表性標(biāo)本、巖礦、化學(xué)分析、人工重砂、同位素年齡、粒度分析、古地磁、化石等等。本次采集樣品主要為標(biāo)本，逐層取樣，大小要求3×6×9cm3，記錄格式為：43m取樣P1-2b1（泥質(zhì)白云巖），有別于路線上取樣{b003-1（中細(xì)粒石英砂巖）}剖面測(cè)制的技術(shù)要求5.剖面觀測(cè)的要點(diǎn)7）測(cè)產(chǎn)狀：原則上逐層測(cè)量，尤其是各巖石地層單位之間更是如此。產(chǎn)狀以總體巖層產(chǎn)狀為準(zhǔn)，忽略局部變形產(chǎn)狀。其記錄格式為：46m產(chǎn)狀：75°?35°剖面測(cè)制工作流程據(jù)區(qū)域資料和剖面實(shí)測(cè)目的

6、選擇剖面位置；剖面路線詳細(xì)踏勘，制定工作計(jì)劃；野外測(cè)量、觀察、記錄及采樣；室內(nèi)整理、編錄和計(jì)算，編繪導(dǎo)線實(shí)際材料平面圖、實(shí)測(cè)剖面圖、柱狀圖；剖面小結(jié)，劃分地層單位；剖面記錄內(nèi)容剖面測(cè)制起止時(shí)間、天氣情況、地點(diǎn)；剖面名稱(chēng)及編號(hào)、測(cè)制任務(wù)及意義、人員分工、地形圖及航磁圖編號(hào)；剖面起止點(diǎn)位置、座標(biāo)、點(diǎn)性、描述；剖面總導(dǎo)線方位，分導(dǎo)線編號(hào)、方位、坡角、斜距；各分層號(hào)、斜距及特征（含地貌特征），重要界面之間地質(zhì)體的關(guān)系；產(chǎn)狀及位置、樣品編號(hào)及位置；信手剖面圖、各類(lèi)素描圖、照片。注：描述內(nèi)容均應(yīng)按導(dǎo)線距及分層

7、號(hào)進(jìn)行！??！剖面測(cè)制記錄格式剖面測(cè)制記錄格式地層剖面計(jì)算表格式中國(guó)地質(zhì)大學(xué)（北京）實(shí)測(cè)地層剖面厚度計(jì)算表圖幅編號(hào)剖面位置：區(qū)（縣）至方向自至地層單位：系組段第頁(yè)導(dǎo)線號(hào)斜距M導(dǎo)線方位N坡角?平距Mcos?（I）高差Msin?（h）地層產(chǎn)狀導(dǎo)線與傾向間夾角?a=Isin?b=Acos?±c=hcos?真厚度m=b±c分層號(hào)層厚累計(jì)厚度備注傾向傾角?0-14670-3??35????75285?????1??Qbc9????70250?????2??2????67303?????3??Qbj1-2557

8、56??40?????????3??5?????????4??10?????????5???1f2-3*據(jù)m=Msin?cos?cos?±Mcos?sin?（可直接計(jì)算或用查表方法求得）山坡與巖層傾向一致時(shí)用“-”號(hào)計(jì)算者：計(jì)算日期：年月日山坡與巖層傾向相反時(shí)用“+”號(hào)檢查者：檢查日期：年月日剖面測(cè)制的方法與注意事項(xiàng)據(jù)剖面起、止點(diǎn)位置用羅盤(pán)在野外測(cè)出剖面總體方位或用量角器在地形圖上度量剖面總體方位；分導(dǎo)線方位（B）、坡角（β）由前、后測(cè)手根據(jù)羅盤(pán)測(cè)得值（相差值一般小于5°）求平均。