QBT1135-1991首飾金銀覆蓋層厚度的測定方法X射線熒光光譜法.pdf

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1、中華人民共和國輕工行業(yè)標準QB/'e1135一1991首飾金銀覆蓋層厚度的測定方法X射線熒光光譜法本標準參照采用國際標準ISO3497;1976(E).1主題內容與適用范圍本標準規(guī)定了用x射線熒光光譜法測量首飾金屬覆蓋層厚度的方法。本標準適用于首飾及其他工藝品中金、銀等覆蓋層厚度的測定(覆蓋層與基體為非相同材質)2方法提要及原理采用x射線熒光光譜法測量金屬覆蓋層厚度是通過x射線熒光的產生檢測和分析而確定覆蓋層厚度的。每種元素的原子都具有其本身獨有的電子排列，對于給定的特征x射線，其能量取決于該原子的原子序數，因此，不同的材料將產生不同能量的x射線熒光。通過x射線熒光測厚儀

2、對不同材料發(fā)出的x射線熒光進行能量分辨和強度的檢測，可以確定材料的特性，從而測定覆蓋層的厚度。3儀器和設備3.1x射線熒光測厚儀:一套(帶自動打印機)。32包括各鍍種的標準樣塊:一套。3.儀器自檢的參照標樣:一塊。4儀器的校準校準是測量樣品的先決條件，校準的目的是使被測樣品覆蓋層的厚度對發(fā)射x射線熒光的強度值之間建立準確的關系，4門校準模式的選擇各類型的x射線熒光測厚儀都具有若干種校準模式，應按筱蓋層和基材的類型選用適當的校準模式4.2校準模式的輸入選定相應的校準模式后，將采用相應的存儲器按規(guī)程輸人校準模式。當采用標準進行校準時，應采用與測試樣品完全一致的條件(包括檢測孔

3、尺寸，相同覆蓋層和基體材料及測量時間等)。在校準程序結束時，將自動進人測試模式。5影響精度的因素5.1計數統(tǒng)計由于x射線光子的產生是在隨機情況下進行的，因而在一固定時間內發(fā)射的光子數量不一定相同，所有放射性測量中都會出現統(tǒng)計誤差。這一統(tǒng)計誤差與計數時間的長短有關。5.2測量時間中華人民共和國輕工業(yè)部1991一06-04批準1992一01一01-3}施QB/T1135一1991為保證達到精度要求，計數時間必須大于1o5,5.3鍍層厚度測量的準確度受被測樣品的厚度范圍影響，在鍍層飽和厚度范圍內準確度最佳。當超過飽和厚度時準確度急劇下降,x射線熒光的強度隨厚度的變化甚微，因而在

4、此范圍內準確度較差。其飽和厚度因覆蓋層材料不同而異。x射線熒光測厚儀的飽和厚度近似值為下表所規(guī)定的范圍(見表1)表1X射線熒光測厚飽和厚度近似值結構上限J-{結、上限，”m銀/鋼50.8一金/銅7.6銀/黃銅50.8{金/黃‘7.6金/鎳7.6金/銀7.65.4樣品曲率厚度測量在平面上進行，若不可避免地要在曲面上測量厚度時，應選擇尺寸為0.lmm的測量孔徑5.5測量面積的尺寸測量孔徑的尺寸取決于試樣的尺寸和形狀，為了獲得滿意的側試結果應選擇鍍層表面有代表性的最大測量面積，而測量孔徑的尺寸應與測量面積的大小相適應。5.6密度若鈕蓋層密度與所用校準標樣不同，將出現厚度測量中相

5、應的誤差。因此可按照密度修正模式輸人試樣的鍍層密度值，此時測試數據將顯示出經密度修正后的厚度值。側試完畢可以按照相應程序，將密度修正值去掉。5.了表面清潔度測試前清除樣品表面所有污垢，如塵土、油脂、銹蝕物、漆以及氧化物等保護層，否則將影響租蓋層厚度的測量。6測f程序6，1校準和操作校準按第4章規(guī)定的程序進行，待校準結束后按儀器說明書進行操作。6.2標樣的校準與儀器的調整進行測試前應采用與被測樣品具有相同基材和搜蓋層的標準進行儀器校準，及時用參照標樣進行自檢，以保證儀器正常使用。6.3樣品的測試當儀器校準結束后自動進人測試模式。測試點的選擇應具有代表性，每個樣品的測試不得低

6、于三個測試點，以求平均厚度的準確性。64打印按動打印鍵，將測試結果自動打印出來。Qs/T1135一1991了準確度在被測鍍層的極限厚度范圍內，允許差小于10%.附加說明:本標準由輕工業(yè)部質量標準司提出。本標準由全國首飾標準化中心歸口。本標準由北京市工藝美術研究所負責起草。本標準主要起草人范積芳。