QBT 1135-1991 首飾金銀覆蓋層厚度的測(cè)定方法X射線熒光光譜法

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1、中華人民共和國(guó)輕工行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)QB/'e1135一1991首飾金銀覆蓋層厚度的測(cè)定方法X射線熒光光譜法本標(biāo)準(zhǔn)參照采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO3497;1976(E).1主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用x射線熒光光譜法測(cè)量首飾金屬覆蓋層厚度的方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于首飾及其他工藝品中金、銀等覆蓋層厚度的測(cè)定(覆蓋層與基體為非相同材質(zhì))2方法提要及原理采用x射線熒光光譜法測(cè)量金屬覆蓋層厚度是通過x射線熒光的產(chǎn)生檢測(cè)和分析而確定覆蓋層厚度的。每種元素的原子都具有其本身獨(dú)有的電子排列，對(duì)于給定的特征x射線，其能量取決于該原子的原子序數(shù)，因

2、此，不同的材料將產(chǎn)生不同能量的x射線熒光。通過x射線熒光測(cè)厚儀對(duì)不同材料發(fā)出的x射線熒光進(jìn)行能量分辨和強(qiáng)度的檢測(cè)，可以確定材料的特性，從而測(cè)定覆蓋層的厚度。3儀器和設(shè)備3.1x射線熒光測(cè)厚儀:一套(帶自動(dòng)打印機(jī))。32包括各鍍種的標(biāo)準(zhǔn)樣塊:一套。3.儀器自檢的參照標(biāo)樣:一塊。4儀器的校準(zhǔn)校準(zhǔn)是測(cè)量樣品的先決條件，校準(zhǔn)的目的是使被測(cè)樣品覆蓋層的厚度對(duì)發(fā)射x射線熒光的強(qiáng)度值之間建立準(zhǔn)確的關(guān)系，4門校準(zhǔn)模式的選擇各類型的x射線熒光測(cè)厚儀都具有若干種校準(zhǔn)模式，應(yīng)按筱蓋層和基材的類型選用適當(dāng)?shù)男?zhǔn)模式4.2校準(zhǔn)模式的輸入

3、選定相應(yīng)的校準(zhǔn)模式后，將采用相應(yīng)的存儲(chǔ)器按規(guī)程輸人校準(zhǔn)模式。當(dāng)采用標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)，應(yīng)采用與測(cè)試樣品完全一致的條件(包括檢測(cè)孔尺寸，相同覆蓋層和基體材料及測(cè)量時(shí)間等)。在校準(zhǔn)程序結(jié)束時(shí)，將自動(dòng)進(jìn)人測(cè)試模式。5影響精度的因素5.1計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)由于x射線光子的產(chǎn)生是在隨機(jī)情況下進(jìn)行的，因而在一固定時(shí)間內(nèi)發(fā)射的光子數(shù)量不一定相同，所有放射性測(cè)量中都會(huì)出現(xiàn)統(tǒng)計(jì)誤差。這一統(tǒng)計(jì)誤差與計(jì)數(shù)時(shí)間的長(zhǎng)短有關(guān)。5.2測(cè)量時(shí)間中華人民共和國(guó)輕工業(yè)部1991一06-04批準(zhǔn)1992一01一01-3}施QB/T1135一1991為保證達(dá)到精度

4、要求，計(jì)數(shù)時(shí)間必須大于1o5,5.3鍍層厚度測(cè)量的準(zhǔn)確度受被測(cè)樣品的厚度范圍影響，在鍍層飽和厚度范圍內(nèi)準(zhǔn)確度最佳。當(dāng)超過飽和厚度時(shí)準(zhǔn)確度急劇下降,x射線熒光的強(qiáng)度隨厚度的變化甚微，因而在此范圍內(nèi)準(zhǔn)確度較差。其飽和厚度因覆蓋層材料不同而異。x射線熒光測(cè)厚儀的飽和厚度近似值為下表所規(guī)定的范圍(見表1)表1X射線熒光測(cè)厚飽和厚度近似值結(jié)構(gòu)上限J-{結(jié)、上限，”m銀/鋼50.8一金/銅7.6銀/黃銅50.8{金/黃‘7.6金/鎳7.6金/銀7.65.4樣品曲率厚度測(cè)量在平面上進(jìn)行，若不可避免地要在曲面上測(cè)量厚度時(shí)，應(yīng)選

5、擇尺寸為0.lmm的測(cè)量孔徑5.5測(cè)量面積的尺寸測(cè)量孔徑的尺寸取決于試樣的尺寸和形狀，為了獲得滿意的側(cè)試結(jié)果應(yīng)選擇鍍層表面有代表性的最大測(cè)量面積，而測(cè)量孔徑的尺寸應(yīng)與測(cè)量面積的大小相適應(yīng)。5.6密度若鈕蓋層密度與所用校準(zhǔn)標(biāo)樣不同，將出現(xiàn)厚度測(cè)量中相應(yīng)的誤差。因此可按照密度修正模式輸人試樣的鍍層密度值，此時(shí)測(cè)試數(shù)據(jù)將顯示出經(jīng)密度修正后的厚度值。側(cè)試完畢可以按照相應(yīng)程序，將密度修正值去掉。5.了表面清潔度測(cè)試前清除樣品表面所有污垢，如塵土、油脂、銹蝕物、漆以及氧化物等保護(hù)層，否則將影響租蓋層厚度的測(cè)量。6測(cè)f程序6

6、，1校準(zhǔn)和操作校準(zhǔn)按第4章規(guī)定的程序進(jìn)行，待校準(zhǔn)結(jié)束后按儀器說明書進(jìn)行操作。6.2標(biāo)樣的校準(zhǔn)與儀器的調(diào)整進(jìn)行測(cè)試前應(yīng)采用與被測(cè)樣品具有相同基材和搜蓋層的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行儀器校準(zhǔn)，及時(shí)用參照標(biāo)樣進(jìn)行自檢，以保證儀器正常使用。6.3樣品的測(cè)試當(dāng)儀器校準(zhǔn)結(jié)束后自動(dòng)進(jìn)人測(cè)試模式。測(cè)試點(diǎn)的選擇應(yīng)具有代表性，每個(gè)樣品的測(cè)試不得低于三個(gè)測(cè)試點(diǎn)，以求平均厚度的準(zhǔn)確性。64打印按動(dòng)打印鍵，將測(cè)試結(jié)果自動(dòng)打印出來。Qs/T1135一1991了準(zhǔn)確度在被測(cè)鍍層的極限厚度范圍內(nèi)，允許差小于10%.附加說明:本標(biāo)準(zhǔn)由輕工業(yè)部質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)司提出。本標(biāo)

7、準(zhǔn)由全國(guó)首飾標(biāo)準(zhǔn)化中心歸口。本標(biāo)準(zhǔn)由北京市工藝美術(shù)研究所負(fù)責(zé)起草。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人范積芳。