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《QBT1135-1991-首飾金銀覆蓋層厚度的測定方法X射線熒光光譜法.pdf》由會員上傳分享，免費在線閱讀，更多相關(guān)內(nèi)容在行業(yè)資料-天天文庫。
1、中華人民共和國輕工行業(yè)標準QB/'e1135一1991首飾金銀覆蓋層厚度的測定方法X射線熒光光譜法本標準參照采用國際標準ISO3497;1976(E).1主題內(nèi)容與適用范圍本標準規(guī)定了用x射線熒光光譜法測量首飾金屬覆蓋層厚度的方法。本標準適用于首飾及其他工藝品中金、銀等覆蓋層厚度的測定(覆蓋層與基體為非相同材質(zhì))2方法提要及原理采用x射線熒光光譜法測量金屬覆蓋層厚度是通過x射線熒光的產(chǎn)生檢測和分析而確定覆蓋層厚度的。每種元素的原子都具有其本身獨有的電子排列，對于給定的特征x射線，其能量取決于該原子的原子序數(shù)，因此，不同的材料將產(chǎn)生不同能量的x射線熒光。通過x射線熒光測厚儀對不同
2、材料發(fā)出的x射線熒光進行能量分辨和強度的檢測，可以確定材料的特性，從而測定覆蓋層的厚度。3儀器和設(shè)備3.1x射線熒光測厚儀:一套(帶自動打印機)。32包括各鍍種的標準樣塊:一套。3.儀器自檢的參照標樣:一塊。4儀器的校準校準是測量樣品的先決條件，校準的目的是使被測樣品覆蓋層的厚度對發(fā)射x射線熒光的強度值之間建立準確的關(guān)系，4門校準模式的選擇各類型的x射線熒光測厚儀都具有若干種校準模式，應(yīng)按筱蓋層和基材的類型選用適當?shù)男誓Ｊ?.2校準模式的輸入選定相應(yīng)的校準模式后，將采用相應(yīng)的存儲器按規(guī)程輸人校準模式。當采用標準進行校準時，應(yīng)采用與測試樣品完全一致的條件(包括檢測孔尺寸，相同覆
3、蓋層和基體材料及測量時間等)。在校準程序結(jié)束時，將自動進人測試模式。5影響精度的因素5.1計數(shù)統(tǒng)計由于x射線光子的產(chǎn)生是在隨機情況下進行的，因而在一固定時間內(nèi)發(fā)射的光子數(shù)量不一定相同，所有放射性測量中都會出現(xiàn)統(tǒng)計誤差。這一統(tǒng)計誤差與計數(shù)時間的長短有關(guān)。5.2測量時間中華人民共和國輕工業(yè)部1991一06-04批準1992一01一01-3}施QB/T1135一1991為保證達到精度要求，計數(shù)時間必須大于1o5,5.3鍍層厚度測量的準確度受被測樣品的厚度范圍影響，在鍍層飽和厚度范圍內(nèi)準確度最佳。當超過飽和厚度時準確度急劇下降,x射線熒光的強度隨厚度的變化甚微，因而在此范圍內(nèi)準確度較差
4、。其飽和厚度因覆蓋層材料不同而異。x射線熒光測厚儀的飽和厚度近似值為下表所規(guī)定的范圍(見表1)表1X射線熒光測厚飽和厚度近似值結(jié)構(gòu)上限J-{結(jié)、上限，”m銀/鋼50.8一金/銅7.6銀/黃銅50.8{金/黃‘7.6金/鎳7.6金/銀7.65.4樣品曲率厚度測量在平面上進行，若不可避免地要在曲面上測量厚度時，應(yīng)選擇尺寸為0.lmm的測量孔徑5.5測量面積的尺寸測量孔徑的尺寸取決于試樣的尺寸和形狀，為了獲得滿意的側(cè)試結(jié)果應(yīng)選擇鍍層表面有代表性的最大測量面積，而測量孔徑的尺寸應(yīng)與測量面積的大小相適應(yīng)。5.6密度若鈕蓋層密度與所用校準標樣不同，將出現(xiàn)厚度測量中相應(yīng)的誤差。因此可按照密度
5、修正模式輸人試樣的鍍層密度值，此時測試數(shù)據(jù)將顯示出經(jīng)密度修正后的厚度值。側(cè)試完畢可以按照相應(yīng)程序，將密度修正值去掉。5.了表面清潔度測試前清除樣品表面所有污垢，如塵土、油脂、銹蝕物、漆以及氧化物等保護層，否則將影響租蓋層厚度的測量。6測f程序6，1校準和操作校準按第4章規(guī)定的程序進行，待校準結(jié)束后按儀器說明書進行操作。6.2標樣的校準與儀器的調(diào)整進行測試前應(yīng)采用與被測樣品具有相同基材和搜蓋層的標準進行儀器校準，及時用參照標樣進行自檢，以保證儀器正常使用。6.3樣品的測試當儀器校準結(jié)束后自動進人測試模式。測試點的選擇應(yīng)具有代表性，每個樣品的測試不得低于三個測試點，以求平均厚度的準
6、確性。64打印按動打印鍵，將測試結(jié)果自動打印出來。Qs/T1135一1991了準確度在被測鍍層的極限厚度范圍內(nèi)，允許差小于10%.附加說明:本標準由輕工業(yè)部質(zhì)量標準司提出。本標準由全國首飾標準化中心歸口。本標準由北京市工藝美術(shù)研究所負責起草。本標準主要起草人范積芳。
