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《冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡》由會(huì)員上傳分享，免費(fèi)在線閱讀，更多相關(guān)內(nèi)容在教育資源-天天文庫(kù)。
1、版權(quán)所有：泰思肯貿(mào)易（上海）有限公司地址：上海市徐匯區(qū)中山西路2025號(hào)826室電話：021-64398570????????????Copyright?TESCANCHINA,Ltd.傳真：021-64399739E-Mail：support@tescanchina.com?網(wǎng)址：http://www.tescan-china.com?冷場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（SEM）型號(hào)：S-4700國(guó)別廠家：日本日立公司價(jià)格：人民幣2600000萬(wàn)購(gòu)置日期：2005年11月技術(shù)指標(biāo)：冷場(chǎng)發(fā)射型，二次電子圖象分辨率在1KV,S=2.1nm，
2、15KV時(shí)為1.5nm。15KV,S=21000,放大倍數(shù)20-500K。X射線能譜元素分析范圍Be-92U。譜線分辨率129.25eV。功能及應(yīng)用范圍：可以觀察和檢測(cè)非均相有機(jī)、無(wú)機(jī)材料，及這些材料在納米、微米級(jí)樣品的表面特征。該儀器廣泛應(yīng)用于金屬材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。能譜附件可對(duì)樣品進(jìn)行微區(qū)成分分析。送樣要求：送樣樣品可以為固體、塊狀、片狀、纖維、狀及粉末狀，但必須為干燥品。應(yīng)有一定的化學(xué)、物理穩(wěn)定性，在真空中及電子束轟擊下不會(huì)揮發(fā)或變形；無(wú)磁
3、性、放射性和腐蝕性。含水分較多的樣品由客戶自己處理。觀察圖象的樣品由本室預(yù)先噴金，一般情況下，樣品大小盡量≤10×10×5mm，粉末樣品在0.5克左右。工作人員：高偉建,蔣蕓（掃描電鏡室4106）聯(lián)系方式：65880389wjgao@suda.edu.cn，jiangyun-suny@163.com·本電子株式會(huì)社(JEOL)地址：北京市西城區(qū)阜外大街2號(hào)萬(wàn)通新世界廣場(chǎng)B-1110[100037]電話：010-68046321/22/23傳真：010-68046324E-Mail：yuan.jianzhong@jeol.
4、com.cn北京辦事處地址：西城區(qū)阜外大街2號(hào)萬(wàn)通新世界廣場(chǎng)B-1110[100037]電話：68046321,68588381傳真：68046324E-Mail：yuan.jianzhong@jeol.com.cn捷歐路（北京）科貿(mào)有限公司地址：北京市西城區(qū)阜外大街二號(hào)萬(wàn)通新世界廣場(chǎng)B-1010[100037]電話：010-68046321,010-68046322傳真：010-68046324E-Mail：yuan.jiangzhong@jeol.com.cn上海辦事處地址：上海市延安西路65號(hào)上海國(guó)際貴都大飯店辦公
5、樓803室[200040]電話：021-62484487,021-62484868傳真：021-62484075E-Mail：zhang.renhe@jeol.com.cn廣州辦事處地址：廣州市環(huán)市東路371-375號(hào)世界貿(mào)易中心大廈北塔3104室[510095]電話：020-87787848,020-87618986傳真：020-87784268E-Mail：shi.guiming@jeol.com.cn武漢辦事處地址：武漢市解放大道686號(hào)世貿(mào)大廈3216室[430032]電話：027-85448953傳真：027-
6、85448695E-Mail：zhao.sumei@jeol.com.cn成都辦事處地址：四川省成都市總府路45號(hào)總府大廈1807A[610000]電話：028-86622554傳真：028-86622564E-Mail：wang.xia@jeol.com.cn場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（SEM）設(shè)備名稱冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（SEM）生產(chǎn)廠家日本日立申請(qǐng)單位實(shí)驗(yàn)中心設(shè)備編號(hào)20092895分類編號(hào)03021021??規(guī)格型號(hào)S-4800設(shè)備單價(jià)2582338.4購(gòu)置時(shí)間2009.5詳細(xì)技術(shù)指標(biāo)二次電子像分辨率：1.0nm(1
7、5kv)；1.4nm(1kv,減速模式)；2.0nm(1kV)普通模式加速電壓：0.5~30kV放大倍率：×20~×800,000束流強(qiáng)度：1pA~2nA物鏡光欄：加熱自清潔式、四孔、可移動(dòng)物鏡光欄樣品室和樣品臺(tái)：移動(dòng)范圍：X：0~50mm；Y：0~5mm；Z：1.5~30mm；T：-5~700旋轉(zhuǎn)R：3600，最大樣品尺寸：100mm探測(cè)器:高位探頭可選擇接受二次電子像或背散射像，并混合X-sight?Si(Li)探測(cè)器(專利)，SuperATW窗口30mm2活區(qū)，分辨率優(yōu)于133eV(MnKα處,計(jì)數(shù)率為4000cp
8、s)，分析元素范圍：Be4-U92現(xiàn)有功能與服務(wù)范圍可觀察物體二次電子像、被散射電子像。主要應(yīng)用于生物、物理、化學(xué)、納米材料、金屬材料、高分子材料等方面的表面形貌觀察、粒度測(cè)量、失效分析等1.????用于物理、化學(xué)粉末物質(zhì)及納米材料的形態(tài)觀察和粒度大小測(cè)量。2.????纖維的鑒別與品質(zhì)鑒定：通過(guò)掃描電鏡可以觀察各種天
