GBT 4956-2003 磁性基體上非磁性覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 磁性法

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1、ICS25.220.40A29中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956-2003/ISO2178：1982代替GB/T4956-1985磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量磁性法Non-magneticcoatingsonmagneticsubstrates-Measurementofcoatingthickness-Magneticmethod（ISO2178：1982，IDT)2003-10-29發(fā)布2004-05-01實(shí)施中華人民共和國(guó)發(fā)布國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局GB/T4956--2003/ISO2178:1982．J－目目．．前．

2、．．門本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO2178:1982(磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量磁性法）（英文版）本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T4956-1985(磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量磁性方法》。本標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)ISO2178:1982作如下編輯性修改：a）用“本標(biāo)準(zhǔn)”代替“本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)”；b)取消了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的前言；c)為便于使用，引用了采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)；d）增加了規(guī)范性引用文件。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位：武漢材料保護(hù)研究所。本標(biāo)準(zhǔn)參加起草單位：浙江樂(lè)清市新豐企業(yè)有限公司。本

3、標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：喻暉、鐘立暢、馮永春、賈建新、鄭秀林。本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為：－－一（TB/T4956一1985。GB/T4956-2003/ISO2178：1982磁性基體上非磁性覆蓋層菠蓋層厚度測(cè)t磁性法范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用磁性測(cè)厚儀無(wú)損測(cè)量磁性基體金屬上非磁性覆蓋層（包括釉瓷和搪瓷層）厚度的方法。本方法僅適用于在適當(dāng)平整的試樣上的測(cè)量。非磁性基體上的鎳筱蓋層厚度測(cè)量?jī)?yōu)先采用GB/T13744規(guī)定的方法。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘

4、誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn)，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T12334金屬和其他非有機(jī)覆蓋層關(guān)于厚度測(cè)量的定義和一般規(guī)則（idtISO2064)GB/T13744磁性和非磁性基體上鎳電鍍層厚度的測(cè)量（eqvISO2361)3原理磁性測(cè)厚儀測(cè)量永久磁鐵和基體金屬之間的磁引力，該磁引力受到覆蓋層存在的影響；或者測(cè)量穿過(guò)菠蓋層與基體金屬的磁通路的磁阻。4影響測(cè)f準(zhǔn)確度的因素”下列因素可能影響覆蓋層厚度測(cè)量的準(zhǔn)確度。4.1班蓋層厚度測(cè)量準(zhǔn)確度隨覆蓋

5、層厚度的變化取決于儀器的設(shè)計(jì)。對(duì)于薄的覆蓋層，其測(cè)量準(zhǔn)確度與覆蓋層的厚度無(wú)關(guān)，為一常數(shù)；對(duì)于厚的覆蓋層，其測(cè)量準(zhǔn)確度等于某一近似恒定的分?jǐn)?shù)與厚度的乘積。4.2基體金屬的磁性基體金屬磁性的變化能影響磁性法厚度的測(cè)量。為了實(shí)際應(yīng)用的目的，可認(rèn)為低碳鋼的磁性變化是不重要的。為了避免各不相同的或局部的熱處理和冷加工的影響，儀器應(yīng)采用性質(zhì)與試樣基體金屬相同的金屬校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校準(zhǔn)；可能的話，最好采用待鍍覆的零件作標(biāo)樣進(jìn)行儀器校準(zhǔn)。4.3基體金屬的厚度對(duì)每一臺(tái)儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于此臨界厚度時(shí)，金屬基體厚度增加，測(cè)量將不受基體金屬厚度增

6、加的影響。臨界厚度取決于儀器測(cè)頭和基體金屬的性質(zhì)，除非制造商有所規(guī)定，臨界厚度的大小應(yīng)通過(guò)試驗(yàn)確定。4.4邊緣效應(yīng)本方法對(duì)試樣表面的不連續(xù)敏感，因此，太靠近邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量將是不可靠的，除非儀器專門為這類測(cè)量進(jìn)行了校準(zhǔn)。這種邊緣效應(yīng)可能從不連續(xù)處開(kāi)始向前延伸大約20mm，這取決于儀器本身。1)針對(duì)本標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)量不確定度定義為：采用正確校準(zhǔn)和正確使用的儀器而得到的不確定的測(cè)量結(jié)果。GB/T4956-2003/1502178：19824.5曲率試樣的曲率影響測(cè)量。曲率的影響因儀器制造和類型的不同而有很大差異，但總是隨曲率半徑的減小而更為明顯

7、。如果在使用雙極式測(cè)頭儀器時(shí)，將兩極匹配在平行于圓柱體軸向的平面內(nèi)進(jìn)行測(cè)量或匹配在垂直于圓柱體軸向的平面內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，也可能得到不同的讀數(shù)。如果單極式測(cè)頭的前端磨損不均勻也能產(chǎn)生同樣的結(jié)果。因此，在彎曲試樣上進(jìn)行測(cè)量可能是不可靠的，除非儀器為這類測(cè)量作了專門的校準(zhǔn)。4.6表面粗糙度如果在粗糙表面上的同一參比面〔見(jiàn)GB/T12334)內(nèi)測(cè)得的一系列數(shù)值的變動(dòng)范圍明顯超過(guò)儀器固有的重現(xiàn)性，則所需的測(cè)量次數(shù)至少應(yīng)增加到5次。4.7基體金屬機(jī)械加工方向使用具有雙極式測(cè)頭或已不均勻磨損的單極式測(cè)頭儀器進(jìn)行測(cè)量，可能受磁性基體金屬機(jī)械加工（如軋制）方向

8、的影響，讀數(shù)隨測(cè)頭在表面上的取向而異。4.8剩磁基體金屬的剩磁可能影響使用固定磁場(chǎng)的測(cè)厚儀的測(cè)量值，但對(duì)使用交變磁場(chǎng)的磁阻型儀器的測(cè)量的影響很小（見(jiàn)6.7).4.9磁場(chǎng)強(qiáng)磁場(chǎng)，例如各種電器設(shè)備