偏壓對(duì)鎂合金表面磁控濺射CrAlTiN膜層的影響.pdf

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1、偏壓對(duì)鎂合金表面磁控濺射CrAlTiN膜層的影響陳迪春,蔣百靈(西安理工大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院陜西西安710048)摘要:使用閉合場(chǎng)非平衡磁控濺射離子鍍體系于鎂合金表面制備了CrAITiN膜層,檢測(cè)了膜層厚度和硬度,在掃描電子顯微鏡(SEM)下觀察了膜層的表面形貌和截面形貌,使用了X衍射儀分析了膜層的相組成。結(jié)果表明:薄膜組織為纖維狀柱狀晶組織,隨著偏壓增大,膜層表面致密性增強(qiáng),顆粒頭部平滑,顆粒間孔洞減少;CrAlTiN薄膜具有與CrN相同的晶體結(jié)構(gòu),在偏壓為40V時(shí)出現(xiàn)了(111)晶面的擇優(yōu)取向,在

2、60V時(shí)出現(xiàn)了(220)晶面的擇優(yōu)取向。關(guān)鍵詞:鎂合金;磁控濺射:偏壓:薄膜中圖分類號(hào):TGl46.2;TGl74.444EffectofBiasonCrAITiNCoatingsonMagnesiumAlloybyMagnetronSputteringCHENDi—chun,JIANGBai-ling(SchoolofMaterialsScienceandEngineering,Xi’anUniversityofTechnology,Xi’an710048,China)Abstract:Usingth

3、esystemofClosedFieldUnbalancedMagnetronSputteringIonPlating,theCrAlTiNcoatingsweredeposffedonthemagnesiumalloy,thethicknessandhardnessweretested,thecross—sectionandmorphologiesofcoatingswereobservedusingscanningelectronmicroscopy(SEM).X—raydiffractionwas

4、usedtoanalyzethephaseconstitution.Theresultshowedthatthecoatingcompactnessboostingupandtheholediminishingoncoatingsurfacewiththeincreaseofbias;theCrystalstructureofCrAlTiNissimilartoCrN,preferred(111)orientationat40Vbiasand(220)orientationat60Vbias.Keywo

5、rds:Magnesiumalloy;MagnetronSputtering;Bias;coating鎂合金的輕質(zhì)和良好的減振性能已引起汽車及輕工機(jī)械等制造行業(yè)的廣泛關(guān)注fl。j,在加工手段和成型工藝日趨完善之后,鎂制品的市場(chǎng)開(kāi)發(fā)已從最初的簡(jiǎn)單替代鋁或其它金屬制品向更能體現(xiàn)鎂合金自身特點(diǎn)的優(yōu)質(zhì)市場(chǎng)拓展,如轉(zhuǎn)速上萬(wàn)甚至超過(guò)5萬(wàn)轉(zhuǎn)的高速紡機(jī)、高速打印機(jī)及輕型印刷機(jī)傳輸桿等。此類部件的設(shè)計(jì)及選材除要求輕質(zhì)、減震外,還要求部件表面具有高的硬度和耐磨性能,然綜觀當(dāng)前所有的鎂合金表面處理技術(shù),幾乎都以解決其耐蝕性為

6、主要目的【4.引,尚無(wú)適合鎂合金精密制品表面耐磨改性的處理技術(shù)。與PVD、CVD和多弧離子鍍等沉積技術(shù)相比,閉合場(chǎng)非平衡磁控濺射離子鍍具有沉積溫度低、膜層均勻、重復(fù)性好等特點(diǎn),特別是沉積溫度可低至150℃,尤其適宜于在鎂合金這種低熔點(diǎn)、高活性金屬表面上進(jìn)行沉積改性【9,10]。如能通過(guò)磁控濺射離子鍍技術(shù)在鎂合金表面沉積一層高硬耐磨的CrAlTiN涂層,則有可能擴(kuò)展鎂合金在高檔制品領(lǐng)域的應(yīng)用空間。陳迪春(1979一),江蘇人,助教,碩士。E~mail:chunzi79@sohu.tom本實(shí)驗(yàn)通過(guò)改變偏壓等

7、濺射參數(shù)研究采用閉合場(chǎng)非平衡磁控濺射于鎂合金表面沉積CrAlTiN這一硬質(zhì)膜的可能性。1實(shí)驗(yàn)方法1.1實(shí)驗(yàn)材料及沉積前處理試驗(yàn)材料為AZ31鎂合金,其化學(xué)成分為3%A1,0.2%Mn,1%Zn,余量為鎂。試樣尺寸為30mm×30mm×5mm。試樣前處理:首先用400#、1200#水砂紙打磨,然后用2500#金相砂紙拋光。拋光完畢后,用去離子水于超聲波容器中清洗30秒,最后用酒精脫水干燥。1.2沉積過(guò)程及鍍膜工藝參數(shù)確定沉積設(shè)備采用英國(guó)Teer公司的UDP450型閉合場(chǎng)非平衡磁控濺射離子鍍系統(tǒng),靶材分布如

8、圖1所示,用氬氣作為濺射氣體,反應(yīng)氣體為氮?dú)?;氬氣濺射壓力為4.0×10’3Torr,靶材與試樣間的距離為100mm。沉積過(guò)程為:(1)以一400V的偏壓進(jìn)行10分鐘離子清洗;《金屬熱處理》2005年第30卷增刊2ll(2)啟動(dòng)Cr靶并沉積10分鐘,沉積Cr層;(3)通入N2,OEM從88%過(guò)渡到65%,沉積CrN過(guò)渡層,時(shí)間30分鐘;(4)啟動(dòng)Al靶和Ti靶,沉積CrAlTiN膜層,OEM由65%到最終55%,沉積時(shí)間30分鐘。通過(guò)以上程

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