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《材料の環(huán)境劣化の3 次元的理解のための手法としてのFIB シーケンシャルセクショニング法》由會員上傳分享，免費在線閱讀，更多相關內容在行業(yè)資料-天天文庫。
1、188INSSJOURNAL,Vol.17(2010),pp188-199材料の環(huán)境劣化の3次元的理解のための手法としてのFIBシーケンシャルセクショニング法FIBsequentialsectioningasatooltounderstandenvironmentalmaterialsdegradationin3DSLozano-Perez＊1,NNi＊1,KKruska＊1,TTerachi＊2andTYamada＊2要約近年，自動化機構が改良されたデュアル?カラムFIB-SEMは，連続的に取得した畫像を，3次元再構築することを可能にした．この技術の原子爐材料の環(huán)境劣化領域での適用は，相
2、や欠陥に対して3次元的な特徴をnmの解像度で表現(xiàn)することが可能である．本報告では，表面酸化，き裂の発生，耐酸化性に及ぼす冷間加工の影響，溶接金屬のき裂成長を含む，同手法の適用例を示す．キーワードFIB-SEM，3次元キャラクタリゼーション，環(huán)境劣化，酸化，き裂成長AbstractIntherecentyears,thearrivalofdualcolumnFIB-SEMsandtheirimprovedlevelofautomationhasenabledthesequentialacquisitionofimagesthatcanbeusedtoreconstructsamplevolu
3、mesin3D.Whenappliedtotheareaofenvironmentaldegradationofmaterialsinnuclearreactors,itcanbecomeaverypowerfultechnique,capableofrepresentin3Dfeatures,phasesand/ordefectswithnmresolution.Examplesofapplicationincludethecharacterizationofsurfaceoxidationandcrackinitiationinausteniticalloys,effectsofcol
4、dworkinoxidationresistanceandcrackgrowthinwelded316Lstainlesssteel.KeywordsFIB-SEM,3Dcharacterization,environmentaldegradation,oxidation,crackgrowth1.Introductiongies(8)butstillhasnotexploiteditsfullpotentialtocharacterizeenvironmentaldegradation.InthisMostphenomenaassociatedtoenvironmentalwork,th
5、roughthreeexamplesofapplication,wematerialsdegradationoccurin3DalthoughawilldemonstratethatFIBsequentialslicingistocomplete3Dcharacterizationisrarelypossible.Inbecomeakeytechniqueif3Dinformationistobethelastdecade,developmentsinseveraltechniquesextractedwithhighspatialresolutionandminimumhaveenabl
6、edtheacquisitionofbetter3Ddataandasamplepreparation.considerablenarrowingofthequalityandresolutiongapthatseparates2Dfrom3D.Thesetechniques2.MaterialsandmethodsincludeX-raytomography,wheresub-micronresolutionisnowadayseasilyachievedandcan2.1Materialsprovidewithchemicalandmicrostructuralinforma-tion
7、(1)(2);XPS,AESandSIMSintheformofVariousalloyswithimportantdegradationissuesdepth-profilingcombinedwithmapping(3)?(5);Scan-havebeenselectedtoillustratethepowerofFIBningTransmissionElectronMicroscopytomographyseque
